[发明专利]缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201811110575.3 申请日: 2018-09-21
公开(公告)号: CN109300127B 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 周凯;廖方诚;张孟;吴小飞;曾江东;王珂;王文涛;江银凤 申请(专利权)人: 深圳新视智科技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/62;G06T7/70;G06T5/00
代理公司: 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 代理人: 仉玉新
地址: 518000 广东省深圳市罗湖区莲*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【说明书】:

本申请涉及一种缺陷检测方法,该方法包括:获取待检测的目标主体对应的目标图像,对所述目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像,当根据所述高斯差分图像确定所述目标主体中存在多个缺陷时,获取每个缺陷在所述目标图像中的位置,根据每个缺陷的位置计算两两缺陷之间的重合度,根据所述重合度进行缺陷合并,确定与所述目标主体对应的合并后的目标缺陷信息。此外,还提出了一种缺陷检测装置、计算机设备及存储介质。

技术领域

发明涉及计算机技术领域,尤其是涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

在工业生产中,需要对生产出的产品进行缺陷检测,比如,在纺织业生产出布匹后,需要检测布匹中是否存在瑕疵或缺陷,便于及时修补,提高布匹质量。传统的缺陷检测方法虽然有很多种,但是要么检测效果不佳,要么计算量大,效率低。因此,亟需要提出一种效率高且效果佳的缺陷检测方法。

发明内容

基于此,有必要针对上述问题,提供一种效率高且效果佳的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。

第一方面,本发明实施例提供一种缺陷检测方法,所述方法包括:

获取待检测的目标主体对应的目标图像;

对所述目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像;

当根据所述高斯差分图像确定所述目标主体中存在多个缺陷时,获取每个缺陷在所述目标图像中的位置;

根据每个缺陷的位置计算两两缺陷之间的重合度,根据所述重合度进行缺陷合并,确定与所述目标主体对应的合并后的目标缺陷信息。

在其中一个实施例中,所述对所述目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像,包括:获取第一高斯核和第二高斯核;采用所述第一高斯核对所述目标图像进行滤波处理,得到第一高斯滤波图像;采用所述第二高斯核对所述目标图像进行滤波处理,得到第二高斯滤波图像;根据所述第一高斯滤波图像和第二高斯滤波图像进行差分得到所述高斯差分图像。

在其中一个实施例中,所述根据每个缺陷的位置计算两两缺陷之间的重合度,根据所述重合度进行缺陷合并,确定与所述目标主体对应的合并后的目标缺陷信息,包括:计算两两缺陷之间的交集面积和两两缺陷之间的并集面积;根据所述两两缺陷之间的交集面积和对应的两两缺陷之间的并集面积计算得到两两缺陷之间的重合度;当所述两两缺陷之间的重合度大于预设阈值时,则将相应的两个缺陷进行合并。

在其中一个实施例中,所述目标主体为布匹,所述目标图像为布匹图像。

在其中一个实施例中,所述获取第一高斯核和第二高斯核,包括:获取两个初始高斯核,将所述两个初始高斯核分别作为当前第一高斯核和当前第二高斯核;根据所述当前第一高斯核和所述当前第二高斯核对所述目标图像进行差分处理得到当前高斯差分图像;根据所述当前高斯差分图像确定所述目标主体中存在的缺陷,计算各个缺陷对应的当前缺陷总面积;当所述当前缺陷总面积小于预设的面积阈值时,则更新所述当前第一高斯核和当前第二高斯核,进入根据所述当前第一高斯核和所述当前第二高斯核对所述目标图像进行差分处理得到当前高斯差分图像的步骤,直到当前缺陷总面积不小于预设的面积阈值时停止,将不小于预设的面积阈值的当前缺陷总面积作为目标缺陷总面积;将所述目标缺陷总面积对应的两个高斯核分别作为目标第一高斯核和目标第二高斯核。

在其中一个实施例中,在所述对所述目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像之前,还包括:对所述目标图像进行灰度处理,得到灰度目标图像;所述对所述目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像,包括:对所述灰度目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像。

第二方面,本发明实施例提供一种布匹缺陷检测装置,所述装置包括:

图像获取模块,用于获取待检测的目标主体对应的目标图像;

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