[发明专利]缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检测的目标主体对应的目标图像；

获取两个初始高斯核，将所述两个初始高斯核分别作为当前第一高斯核和当前第二高斯核；

根据所述当前第一高斯核和所述当前第二高斯核对所述目标图像进行差分处理得到当前高斯差分图像；

根据所述当前高斯差分图像确定所述目标主体中存在的缺陷，计算各个缺陷对应的当前缺陷总面积；

当所述当前缺陷总面积小于预设的面积阈值时，则进入根据所述当前第一高斯核和所述当前第二高斯核对所述目标图像进行差分处理得到当前高斯差分图像的步骤，直到当前缺陷总面积不小于预设的面积阈值时停止，将不小于预设的面积阈值的当前缺陷总面积作为目标缺陷总面积；

将所述目标缺陷总面积对应的两个高斯核分别作为目标第一高斯核和目标第二高斯核；

采用所述第一高斯核对所述目标图像进行滤波处理，得到第一高斯滤波图像；

采用所述第二高斯核对所述目标图像进行滤波处理，得到第二高斯滤波图像；

根据所述第一高斯滤波图像和第二高斯滤波图像进行差分得到所述高斯差分图像；

当根据所述高斯差分图像确定所述目标主体中存在多个缺陷时，获取每个缺陷在所述目标图像中的位置；

根据每个缺陷的位置计算两两缺陷之间的重合度，根据所述重合度进行缺陷合并，确定与所述目标主体对应的合并后的目标缺陷信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每个缺陷的位置计算两两缺陷之间的重合度，根据所述重合度进行缺陷合并，确定与所述目标主体对应的合并后的目标缺陷信息，包括：

计算两两缺陷之间的交集面积和两两缺陷之间的并集面积；

根据所述两两缺陷之间的交集面积和对应的两两缺陷之间的并集面积计算得到两两缺陷之间的重合度；

当所述两两缺陷之间的重合度大于预设阈值时，则将相应的两个缺陷进行合并。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标主体为布匹，所述目标图像为布匹图像。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对所述目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像之前，还包括：

对所述目标图像进行灰度处理，得到灰度目标图像；

所述对所述目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像，包括：

对所述灰度目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像。

5.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：

图像获取模块，用于获取待检测的目标主体对应的目标图像；

差分处理模块，用于

获取两个初始高斯核，将所述两个初始高斯核分别作为当前第一高斯核和当前第二高斯核；

根据所述当前第一高斯核和所述当前第二高斯核对所述目标图像进行差分处理得到当前高斯差分图像；

根据所述当前高斯差分图像确定所述目标主体中存在的缺陷，计算各个缺陷对应的当前缺陷总面积；

当所述当前缺陷总面积小于预设的面积阈值时，则进入根据所述当前第一高斯核和所述当前第二高斯核对所述目标图像进行差分处理得到当前高斯差分图像的步骤，直到当前缺陷总面积不小于预设的面积阈值时停止，将不小于预设的面积阈值的当前缺陷总面积作为目标缺陷总面积；

将所述目标缺陷总面积对应的两个高斯核分别作为目标第一高斯核和目标第二高斯核；

采用所述第一高斯核对所述目标图像进行滤波处理，得到第一高斯滤波图像；

采用所述第二高斯核对所述目标图像进行滤波处理，得到第二高斯滤波图像；

根据所述第一高斯滤波图像和第二高斯滤波图像进行差分得到所述高斯差分图像；

位置获取模块，用于当根据所述高斯差分图像确定所述目标主体中存在多个缺陷时，获取每个缺陷在所述目标图像中的位置；

缺陷确定模块，用于根据每个缺陷的位置计算两两缺陷之间的重合度，根据所述重合度进行缺陷合并，确定与所述目标主体对应的合并后的目标缺陷信息。