[发明专利]一种SI测试探台装置

说明书

本发明公开了一种SI测试探台装置，包括：底座；第一探针；第一调节机构，连接在所述底座与所述第一探针之间，以用于调节所述第一探针与所述底座的竖直方向上的相对位置；压力传感器，用于检测所述第一探针探头压力值。在该SI测试探台装置中，通过第一调节机构调节第一探针的位置，以使第一探针固定在某个高度位置，以稳定的与待测设备的测点相接触，避免手持探针检测，提高了检测操作的方便性。同时设置了压力传感器，以可以通过压力传感器及时获知第一探针的探头与待测设备的测点是否充分接触，有效地避免了局部结构因外力或者热胀冷缩等原因，导致第一探针的探头与待测设备的测点脱离接触或接触不实的现象。

技术领域

本发明涉及工具技术领域，更具体地说，涉及一种SI测试探台装置。

背景技术

在进行SI(信号完整性)测试时，测试人员需要将探针接触到DUT(待测设备)上的测点上，通常需要在待测设备上焊线，然后连接探针；或者直接手持探棒点在待测设备上的测点上。

在实际测试时，如果遇到信号数量特别多的测试项，比如I2C总线(内部整合电路总线)的测试，焊线将会非常的频繁，而且有可能因多次的焊接导致待测板卡损坏，延误测试进度；若采用手持探棒的方式，则因为需要同时测两条信号线或者更多，而且需要同时操作示波器，一个测试人员将会非常吃力。

综上所述，如何有效地解决探针进行信号完整性检测不方便的问题，是目前本领域技术人员急需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种SI测试探台装置，该SI测试探台装置可以有效地解决探针进行信号完整性检测不方便的问题。

为了达到上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种SI测试探台装置，包括：底座；第一探针；第一调节机构，连接在所述底座与所述第一探针之间，以用于调节所述第一探针与所述底座的竖直方向上的相对位置；压力传感器，用于检测所述第一探针探头压力值。

根据上述的技术方案，可以知道在应用该SI测试探台装置时，将待测设备的测点放置在第一探针的下方，并由台面支撑固定，即与底座相对固定，然后通过第一调节机构的调节作用，使第一探针相对底座，即相对待测设备的测点下降至探头与待测设备的测点相接触，同时可以通过压力传感器检测第一探针的探头是否充分地与待测设备的测点相接触。在该SI测试探台装置中，通过第一调节机构调节第一探针的位置，以使第一探针固定在某个高度位置，以稳定地与待测设备的测点相接触，避免了手持探针检测，提高了检测操作的方便性。同时在本申请中，设置了压力传感器，以可以通过压力传感器及时获知第一探针的探头与待测设备的测点是否充分接触，有效地避免了局部结构因外力或者热胀冷缩等原因，导致存在第一探针的探头与待测设备的测点脱离接触或接触不实的现象。所以该SI测试探台装置能够有效地解决探针进行信号完整性检测不方便的问题。

还包括第二调节机构，所述第二调节机构连接在所述底座与所述第一探针之间，以用于调节所述第一探针与所述底座的水平方向上的相对位置。

优选地，所述第二调节机构包括相对所述底座能够绕竖直方向延伸轴线转动的旋转柱和一端与所述旋转柱连接且两端沿水平方向距离可调节的横向调节组件，所述第一探针安装在所述横向调节组件的另一端。

优选地，所述横向调节组件包括一端与所述旋转柱绕第一转轴转动连接的第一转臂和一端与所述第一转臂另一端绕第二转轴转动连接的第二转臂，所述第一转轴与所述第二转轴均水平设置，且与所述第一转臂和所述第二转臂均垂直设置。

优选地，所述第一调节机构设置在所述第二调节机构与所述第一探针之间。

优选地，还包括用于在所述压力传感器测量值超出预定范围时发出报警信号的报警装置。