[发明专利]一种检测电容式触摸屏功能片的方法及系统

说明书

本发明涉及一种检测电容式触摸屏功能片的方法及系统，其方法包括以下步骤，S1，检测待测电容式触摸屏功能片的位置，得到位置信息；S2，根据所述位置信息控制检测装置与待测电容式触摸屏功能片接触；S3，通过所述检测装置对待测电容式触摸屏功能片施加一激励阶跃信号，并获取所述激励阶跃信号在待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径中传输时反射回来的第一电压波形数据；S4，通过所述第一电压波形数据判断出待测电容式触摸屏功能片是否为良品。本发明可以快速的检测电容式触摸屏功能片，具有在线检测，连续作业，快速检测，实时信息传输的特点，利用本系统可以将电性能测试从模组组装阶段移至功能片制造阶段，从而提高生产效率。

技术领域

本发明涉及电容式触摸屏的检测领域，具体涉及一种检测电容式触摸屏功能片的方法及系统。

背景技术

电容式触摸屏是近些年来发展起来的一种人机交互界面，相比于传统的电阻式触摸屏、红外式触摸屏、电磁式触摸屏，更有利于与新一代智能手机匹配，以实现复杂的人机交互功能。针对电容式触摸屏中的核心器件功能片，主要起到电容传感的作用，无论是何种基材或者导电材质，均需要刻蚀或者烧灼一定的图案来实现这一传感功能。但是对于功能片的测试来说，主要是判断电容传感性能是否达标。目前业界的做法是前端黄光制程进行光学图形比对，以及后端将小片的功能片与目标产品的驱动集成电路用柔性电路板通过测试探针进行假连接，通过驱动集成电路给出的激励信号和采样信号进行测试，判断该功能片是否良品。但这种方式的测试无法像印刷电路板那样在前端黄光阶段进行电学测试，不利于自动化测试的实施以及生产效率的提高。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种检测电容式触摸屏功能片的方法及系统，可以实现自动化的测试和提高生产效率。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种检测电容式触摸屏功能片的方法，包括以下步骤，

S1，检测待测电容式触摸屏功能片的位置，得到位置信息；

S2，根据所述位置信息控制检测装置与待测电容式触摸屏功能片接触；

S3，通过所述检测装置对待测电容式触摸屏功能片施加一激励阶跃信号，并获取所述激励阶跃信号在待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径中传输时反射回来的第一电压波形数据；

S4，通过所述第一电压波形数据判断出待测电容式触摸屏功能片是否为良品，且在待测电容式触摸屏功能片不是良品的情况下，通过所述第一波形数据计算出待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径的开路点或短路点。

本发明的有益效果是：本发明一种检测电容式触摸屏功能片的方法通过对待测电容式触摸屏功能片位置进行检测，根据检测的位置信息带动探针模组与待测电容式触摸屏功能片接触，测试装置通过探针模组对待测电容式触摸屏功能片进行测试得到测试数据，上位机根据测试数据判断出待测电容式触摸屏功能片是否为良品；本发明可以快速的检测电容式触摸屏功能片，具有在线检测，连续作业，快速检测，实时信息传输的特点，利用本系统可以将电性能测试从模组组装阶段移至功能片制造阶段，从而提高生产效率。

在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。

进一步，所述S4具体为，

S41，将所述第一电压波形数据与预先存储的第二电压波形数据进行相关性计算，得出相关性阈值；

其中，所述第二电压波形为所述激励阶跃信号在良品电容式触摸屏功能片的感应电极路径中传输时反射回来的电压波形数据；

S42，根据所述相关性阈值判断待测电容式触摸屏功能片是否为良品。

采用上述进一步方案的有益效果是：本发明通过比对测量结果和标准值的差异，来判断本次测量功能片的好坏，为了快速判断采用近似度值(相关性计算)判断法。

进一步，所述S41中进行相关性计算的公式为，