[发明专利]一种检测电容式触摸屏功能片的方法及系统

权利要求书

1.一种检测电容式触摸屏功能片的方法，其特征在于：包括以下步骤，

S1，检测待测电容式触摸屏功能片的位置，得到位置信息；

S2，根据所述位置信息控制检测装置与待测电容式触摸屏功能片接触；

S3，通过所述检测装置对待测电容式触摸屏功能片施加一激励阶跃信号，并获取所述激励阶跃信号在待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径中传输时反射回来的第一电压波形数据；

S4，通过所述第一电压波形数据判断出待测电容式触摸屏功能片是否为良品，且在待测电容式触摸屏功能片不是良品的情况下，通过所述第一波形数据计算出待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径的开路点或短路点。

2.根据权利要求1所述的一种检测电容式触摸屏功能片的方法，其特征在于：所述S4具体为，

S41，将所述第一电压波形数据与预先存储的第二电压波形数据进行相关性计算，得出相关性阈值；

其中，所述第二电压波形为所述激励阶跃信号在良品电容式触摸屏功能片的感应电极路径中传输时反射回来的电压波形数据；

S42，根据所述相关性阈值判断待测电容式触摸屏功能片是否为良品。

3.根据权利要求2所述的一种检测电容式触摸屏功能片的方法，其特征在于：所述S41中进行相关性计算的公式为，

其中，第一电压波形数据和第二电压波形数据均是电压与时间的数据序列，O为第二电压波形数据中在预设时间点的电压幅度，为第二电压波形数据中在整体时间段内的电压幅度的平均值，T为第一电压波形数据中在预设时间点的电压幅度，为第一电压波形数据中在整体时间段内的电压幅度的平均值。

4.根据权利要求3所述的一种检测电容式触摸屏功能片的方法，其特征在于：当待测电容式触摸屏功能片为次品，所述S4还包括以下步骤，

S43，根据所述第一电压波形数据中电压幅度变化的时间点，计算出待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径中阻抗变化点的位置；

S44，根据所述第一电压波形数据判断待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径中阻抗变化点为开路或短路。

5.根据权利要求4所述的一种检测电容式触摸屏功能片的方法，其特征在于：判断待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径中阻抗变化点为开路或短路的公式为，

其中，ρ为反射系数，当ρ＝-1时，待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径中阻抗变化点为短路，当ρ＝1，待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径中阻抗变化点为开路；

V_r为所述第一电压波形数据中电压幅度变化的时间点处的电压幅度；V_i为所述激励阶跃信号的电压幅度；Z_L为待测电容式触摸屏功能片的负载阻抗；Z₀为待测电容式触摸屏功能片的传输线特性阻抗。

6.一种检测电容式触摸屏功能片的系统，其特征在于：包括视觉检测装置、数控运动平台、探针模组、测试装置和上位机，

所述视觉检测装置用于检测待测电容式触摸屏功能片的位置，得到位置信息；

所述探针模组安装在所述数控运动平台上，所述数控运动平台用于根据所述位置信息控制所述探针模组与待测电容式触摸屏功能片接触；

所述测试装置与所述探针模组电连接，所述测试装置用于通过所述探针模组对待测电容式触摸屏功能片施加一激励阶跃信号，并获取所述激励阶跃信号在待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径中传输时反射回来的第一电压波形数据；

所述上位机用于通过所述第一电压波形数据判断出待测电容式触摸屏功能片是否为良品，且在待测电容式触摸屏功能片不是良品的情况下，通过所述第一波形数据计算出待测电容式触摸屏功能片的感应电极路径的开路点或短路点。