[发明专利]优化BGA区信号线阻抗的方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种优化BGA区信号线阻抗的方法，其特征在于，包括：

确定BGA区信号线的走线信息和与非BGA区对应的标准阻抗；

依据所述走线信息调节所述BGA区介质层的介电常数，以使所述BGA区的阻抗处于与所述标准阻抗对应的标准范围；

将处于所述标准范围的介电常数作为目标介电常数，并确定与所述目标介电常数对应的介质为所述BGA区介质层的目标介质，以使所述BGA区的阻抗与所述标准阻抗相连续；

所述依据所述走线信息调节所述BGA区介质层的介电常数，以使所述BGA区的阻抗处于与所述标准阻抗对应的标准范围具体为：

在保证线宽和线间距不变的基础上，调节所述BGA区介质层的介电常数，以使所述BGA区的阻抗处于与所述标准阻抗对应的标准范围；

其中，所述走线信息包括BGA区的所述线宽和所述线间距。

2.根据权利要求1所述的优化BGA区信号线阻抗的方法，其特征在于，所述走线信息包括BGA区的线宽和线间距，对应的，所述依据所述走线信息调节所述BGA区介质层的介电常数包括：

保持所述线宽和所述线间距不变，调节所述BGA区的第一介质层的第一介电常数。

3.根据权利要求1所述的优化BGA区信号线阻抗的方法，其特征在于，所述走线信息包括BGA区的线宽和线间距，对应的，所述依据所述走线信息调节所述BGA区介质层的介电常数包括：

保持所述线宽和所述线间距不变，调节所述BGA区的第二介质层的介质的介电常数。

4.根据权利要求2或3所述的优化BGA区信号线阻抗的方法，其特征在于，所述依据所述走线信息调节所述BGA区介质层的介质的介电常数还包括：

保持所述线宽和所述线间距不变，同时调节所述BGA区的第一介质层和第二介质层的第二介电常数。

5.根据权利要求1所述的优化BGA区信号线阻抗的方法，其特征在于，若所述BGA区的阻抗处于与所述标准阻抗对应的标准范围，还包括：

判断所述BGA区的阻抗与所述标准阻抗的差值是否满足预设要求；

若否，则进入依据所述走线信息调节所述BGA区介质层的介质的介电常数的步骤；

若是，则进入将处于所述标准范围的介电常数作为目标介电常数，并确定与所述目标介电常数对应的介质为所述BGA区的目标介质的步骤。

6.一种优化BGA区信号线阻抗的装置，其特征在于，包括：

第一确定模块，用于确定BGA区信号线的走线信息和与非BGA区对应的标准阻抗；

调节模块，用于依据所述走线信息调节所述BGA区介质层的介质的介电常数，以使所述BGA区的阻抗处于与所述标准阻抗对应的标准范围；

第二确定模块，用于将处于所述标准范围的介电常数作为目标介电常数，并确定与所述目标介电常数对应的介质为所述BGA区的目标介质，以使所述BGA区的阻抗与所述标准阻抗相连续；

所述调节模块具体用于：

在保证线宽和线间距不变的基础上，调节所述BGA区介质层的介电常数，以使所述BGA区的阻抗处于与所述标准阻抗对应的标准范围；

其中，所述走线信息包括BGA区的所述线宽和所述线间距。

7.根据权利要求6所述的优化BGA区信号线阻抗的装置，其特征在于，所述走线信息包括BGA区的线宽和线间距，对应的，所述调节模块包括：

保持所述线宽和所述线间距不变，调节所述BGA区的第一介质层的第一介电常数。

8.根据权利要求6所述的优化BGA区信号线阻抗的装置，其特征在于，还包括：

判断模块，用于判断BGA区的阻抗与标准阻抗的差值是否满足要求，若是，则进入所述第二确定模块，若否，则进入所述调节模块。

9.一种优化BGA区信号线阻抗的设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述存储器中存储的计算机程序以实现如权利要求1-5任一项所述的优化BGA区信号线阻抗方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行以实现如权利要求1-5任一项所述的优化BGA区信号线阻抗方法的步骤。