[发明专利]一种编码光谱成像系统的数据修正方法有效

专利信息
申请号: 201811075894.5 申请日: 2018-09-14
公开(公告)号: CN109405967B 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 李立波;唐兴佳;王爽;王锋;胡炳樑;闫鹏;冯向朋 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 61211 西安智邦专利商标代理有限公司 代理人: 汪海艳<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 像元 编码光谱 编码模板 成像系统 数据修正 校正 编码数据重构 编码误差 编码重构 成像误差 解决系统 原始数据 暗电流 归一化 拟合 修正 替代
【说明书】:

发明涉及一种编码光谱成像系统的数据修正方法。通过在编码数据重构前,首先对原始数据减暗电流完成暗像元修正,然后通过坏像元定位加像元替代模式完成坏像元校正,最后通过拟合曲面归一化的方式完成编码模板校正,解决系统编码误差和成像误差,提高编码模板数据的准确性,最终提高了编码重构的准确性。

技术领域

本发明涉及一种编码光谱成像系统的数据修正方法。

背景技术

光谱成像技术是一种集光学、光谱学、精密机械、电子技术及计算机技术等与一体的新型探测技术,在获取目标的光谱特性曲线的同时,还可以获得目标的空间几何信息。由于传统成像体制,往往存在硬件工艺难以实现、海量数据传输压力大、系统光能利用率低等问题,因此,需要探索新的光谱成像技术原理。编码光谱成像技术正是一种新型的计算型光谱成像技术,其包括哈达码编码光谱成像技术和压缩编码光谱成像技术,二者都是通过编码模板调制实现光信息的调制混叠,然后,通过图谱重构,得到目标光谱图像信息,其具有多通道探测的优势,而压缩编码光谱成像技术还具有低数据采样和低硬件要求等特点。

通常,编码光谱成像系统获取的数据也存在待修正的问题。比如,由于探测器存在坏像元,或者编码模板与探测器像元不匹配,引起编码错误,或者编码数据非编码性混叠,导致重构结果出错,因此,需进行坏像元修正等。

对于坏像元修正,传统的方法是通过积分球照射观测,以像元极亮或极暗来寻找坏像元,然后,通过临近像元均值替代法进行坏像元修正,然而,该均值替代法对于编码型光谱成像系统来说,由于编码设计的存在,使得笼统的均值替代无法准确定位坏像元的真实编码效果,因此,针对编码光谱系统来说,还需进行更细化的坏像元修正方法。

同时,由于编码模板由不同编码单元组成,其整体编码传递函数由编码矩阵唯一表示,因此,编码成像结果由各个编码单元确定。而实际实现中,可能会存在编码单元与探测器单元不匹配的问题,或者探测器响应不一致出现幅值差异的问题。

发明内容

为了解决编码光谱成像系统中坏像元修正效果差且因编码模板偏差,出现的实际编码成像与设计编码成像不一致的问题,本发明提供一种编码光谱成像系统的数据修正方法。

本发明的技术方案是提供一种编码光谱成像系统的数据修正方法,包括以下步骤:

步骤一:对编码模板图像与实际观测图像中的坏像元进行校正;坏像元校正的步骤为:

步骤1.1):确定坏像元的位置;

步骤1.2):修正编码模板图像与实际观测图像中的坏像元;

步骤二:对编码模板的模板数据进行修正。

进一步地,通过如下过程确定坏像元的位置:

首先,在黑暗条件下,对探测器进行成像,确定亮像元(幅值异常极大)位置,记为(X1,Y1);

然后,在积分球照射下,再对探测器进行成像试验,确保成像区域的幅值不饱和,确定暗像元(幅值异常极小)位置,记为(X2,Y2);

两种情况下,只要有一种情况出现异常,则该像元为坏像元,因此坏像元位置为:

(X,Y)=(X1,Y1)||(X2,Y2)。其中,(X1,Y1)表示黑暗条件下的极亮点位置,(X2,Y2)表示积分球照射下的极暗点位置。

进一步地,上述步骤1.2)中编码模板图像中坏像元的修正:

在单色仪或单色激光照射下,对成像系统进行成像试验,获取探测器图像;

当编码光谱成像系统为压缩编码光谱成像系统时,将步骤1.1)中确定的坏像元幅值修正为该像元对应实际设计的编码值;

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