[发明专利]一种编码光谱成像系统的数据修正方法

权利要求书

1.一种编码光谱成像系统的数据修正方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：对编码模板图像与实际观测图像中的坏像元进行校正；

步骤1.1)：确定坏像元的位置；

步骤1.2)：修正编码模板图像与实际观测图像中的坏像元；

步骤二：对编码模板的模板数据进行修正；

步骤1.1)具体为：

首先，在黑暗条件下，对探测器进行成像，确定亮像元位置，记为(X1，Y1)；

然后，在积分球照射下，再对探测器进行成像试验，确保成像区域的幅值不饱和，确定暗像元位置，记为(X2，Y2)；

坏像元位置为：

(X，Y)＝(X1，Y1)||(X2，Y2)；

步骤1.2)具体为：

编码模板图像中坏像元的修正：

当编码光谱成像系统为压缩编码光谱成像系统时，将步骤1.1)中确定的坏像元幅值修正为该像元对应实际设计的编码值；

当编码光谱成像系统为哈达码编码光谱成像系统时，采用临近点列平均法对亮条纹中的坏像元校正和暗条纹中的坏像元校正；

实际观测图像中坏像元的修正；

采用二维窗平均法、插值法或拟合法对步骤1.1)中确定的坏像元位置处的坏像元进行修正；

临近点列平均法具体为：

将亮条纹中的暗像元幅值D_d/l(i,j)校正为：1/2*[D_d/l(i,j-1)+D_d/l(i,j+1)]

将暗条纹中的亮像元幅值D_l/d(i,j)校正为：1/2*[D_l/d(i,j-1)+D_l/d(i,j+1)]

其中d/l表示亮条纹中的暗像元，l/d表示暗条纹中的亮像元，i，j表示当前像元的位置坐标；

二维窗平均法具体为：

假设窗半径大小设置为s，则二维窗平均法可表示为:

其中m，n表示求和时取的位置坐标。

2.根据权利要求1所述的编码光谱成像系统的数据修正方法，其特征在于：

所述步骤二具体为：

当为压缩编码光谱成像系统时：

首先去除暗电流，其次对编码模板图像数据进行二维曲面拟合，得到拟合曲面数据；然后，将编码模板图像数据除以拟合曲面数据，获得校正后的二维编码模板数据；最后，对校正后的二维编码模板数据进行归一化处理和0-1截断处理；

当为哈达码编码光谱成像系统时：先进行去暗电流，其次，对编码模板图像数据做光谱维方向的多项式拟合，得到光谱维编码模板图像拟合数据，然后将编码模板图像数据除以拟合得到的光谱维编码模板图像拟合数据，获得校正后的光谱维编码模板数据，最后，对校正后的光谱维编码模板数据进行归一化处理和0-1截断处理。