[发明专利]金刚石器件及其制备方法有效
申请号: | 201811045165.5 | 申请日: | 2018-09-07 |
公开(公告)号: | CN109273354B | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 郭建超;蔚翠;冯志红;房玉龙;何泽召;王晶晶;刘庆彬;周闯杰;高学栋 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | H01L21/04 | 分类号: | H01L21/04;H01L29/417;H01L29/45 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 李荣文 |
地址: | 050051 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 金刚石 器件 及其 制备 方法 | ||
本发明适用于半导体技术领域,提供了一种金刚石器件及其制备方法。所述制备方法包括:在金刚石的源电极区和漏电极区沉积石墨烯催化层;将沉积石墨烯催化层的金刚石进行退火处理,在所述金刚石中的源电极区和漏电极区形成石墨烯层;在所述石墨烯层与源电极区对应区域的上表面沉积金属层形成欧姆接触源电极,在所述石墨烯层与漏电极区对应区域的上表面沉积金属层形成欧姆接触漏电极。本发明能够降低金刚石器件的源极和漏极的欧姆接触电阻,提高金刚石器件的频率性能,进而也提高了金刚石器件的性能。
技术领域
本发明属于半导体技术领域,尤其涉及一种金刚石器件及其制备方法。
背景技术
金刚石具有超宽禁带宽度、超高击穿电场、高载流子迁移率、极高热导率和极强抗辐射能力等特征,金刚石器件具有工作温度高、击穿场强大、截止频率高、功率密度大等优点,是未来微波大功率领域的首选。
金刚石器件源极的欧姆接触电阻,以及漏极的欧姆接触电阻均是金刚石器件的寄生电阻的主要来源,金刚石器件的寄生电阻决定了晶体管性能好坏。现有的金刚石器件,源极和漏极的欧姆接触电阻均较大,导致金刚石器件的频率性能下降,降低了金刚石器件的性能。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种金刚石器件及其制备方法,以解决现有技术中金刚石器件的源极和栅极的欧姆接触电阻较大的问题。
本发明实施例的第一方面提供了一种金刚石器件的制备方法,包括:
在金刚石的源电极区和漏电极区沉积石墨烯催化层;
将沉积石墨烯催化层的金刚石进行退火处理,在所述金刚石中的源电极区和漏电极区形成石墨烯层;
在所述石墨烯层与源电极区对应区域的上表面沉积金属层形成欧姆接触源电极,在所述石墨烯层与漏电极区对应区域的上表面沉积金属层形成欧姆接触漏电极。
可选的,所述在金刚石的源电极区和漏电极区沉积石墨烯催化层,包括:
在所述金刚石的上表面沉积石墨烯催化层;
在所述石墨烯催化层与源电极区对应的区域和与漏电极区对应的区域上分别涂覆光刻胶层;
去除所述金刚石中除源电极区和漏电极区以外区域的石墨烯催化层;
去除所述光刻胶层。
可选的,所述在所述金刚石的上表面沉积石墨烯催化层,包括:
通过磁控溅射法、离子束沉积法和电子束蒸发法中的任一种沉积方法在所述金刚石的上表面沉积石墨烯催化层。
可选的,所述去除所述金刚石中除源电极区和漏电极区以外区域的石墨烯催化层,包括:
通过硝酸溶液、硫酸溶液、盐酸溶液和氢氟酸溶液中的任一种溶液,对所述金刚石中除源电极区和漏电极区以外区域的石墨烯催化层进行腐蚀处理。
可选的,所述石墨烯催化层的材质为金属镍。
可选的,所述石墨烯催化层的厚度小于200nm。
可选的,所述退火处理的处理温度为900℃至950℃,退火时间为5分钟至10分钟,降温速率为5℃/s至10℃/s。
可选的,所述在所述石墨烯层与源电极区对应区域的上表面沉积金属层形成欧姆接触源电极,在所述石墨烯层与漏电极区对应区域的上表面沉积金属层形成欧姆接触漏电极,包括:
在所述金刚石中除源电极区和漏电极区以外区域的上表面涂覆光刻胶层;
在所述石墨烯层与源电极区对应区域的上表面和所述石墨烯层与漏电极区对应区域的上表面均沉积金属层;
去除所述光刻胶层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十三研究所,未经中国电子科技集团公司第十三研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811045165.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:改善晶圆光刻胶显影后残留缺陷的方法
- 下一篇:一种硒整流片制备工艺
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造