[发明专利]一种防漏V-CUT测试结构和方法在审
| 申请号： | 201811033997.5 | 申请日： | 2018-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN108845246A | 公开（公告）日： | 2018-11-20 |
| 发明（设计）人： | 谭镇兴 | 申请（专利权）人： | 清远市富盈电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 广州市科丰知识产权代理事务所(普通合伙) 44467 | 代理人： | 龚元元 |
| 地址： | 511500 广东省清远市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 防漏 测试结构 测试焊盘 开路状态 相交点 折断 连通 嵌入 规划 保证 | ||
1.一种防漏V-CUT测试结构，包括设置在PCB折断边上的至少一对防漏V-CUT测试焊盘，其特征在于，所述的防漏V-CUT测试焊盘之间通过PAD线连通；所述的PAD线的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的V-CUT槽的60-70％的宽度的位置；所述的PAD线与已规划好但是还未锣出的V-CUT槽的相交点为2个，间距为0.85-0.95mm。
2.根据权利要求1所述的防漏V-CUT测试结构，其特征在于，所述的V-CUT槽的宽度为0.8mm。
3.根据权利要求2所述的防漏V-CUT测试结构，其特征在于，所述的防漏V-CUT测试焊盘的中心间距为2mm。
4.根据权利要求1所述的防漏V-CUT测试结构，其特征在于，所述的PAD线嵌入到已规划好但是还未锣出的V-CUT槽中的部分为凹字形或内凹的弧形。
5.根据权利要求1所述的防漏V-CUT测试结构，其特征在于，所述的所述的PAD线的末端嵌入到已规划好但是还未锣出的V-CUT槽的2/3的宽度的位置，所述的PAD线与已规划好但是还未锣出的V-CUT槽的相交点为2个，间距为0.9mm。
6.一种防漏V-CUT测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1：按照权利要求1-5任意所述的方法制备得到防漏V-CUT测试结构；
步骤2：采用锣刀在预设的位置锣出V-CUT槽，PAD线被切断，端部距离为0.85-0.95mm；
步骤3：测试防漏V-CUT测试焊盘之间的导通性能。
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