[发明专利]测量设备和测量方法

说明书

本发明提供测量设备和测量方法。本发明涉及通过包括射频透镜的测量设备进行射频信号的测量，其中的射频透镜用于将反射器的顶点映射到虚拟顶点。因此，可以在反射器的顶点或者在借助射频透镜生成的虚拟顶点执行射频信号的测量。

技术领域

本发明涉及测量设备。本发明还涉及测量方法。

背景技术

虽然理论上适用于任何无线测量设备，但是此后将结合无线通信设备的测试来描述本发明及其潜在的问题。

随着高速无线数据通信的进步，用于电子设备之间的通信的无线通信系统的使用持续增多。

用于这样的通信系统的设备的开发或生产中，有必要针对符合通信标准和法规对这些设备进行全面地测试。

为此，测试无线通信设备可以包括分析无线通信设备的射频发射。在一些情况下，通信设备可以不只发射一个或多个期望频率或频率范围相关的无线信号。而且，还可能由于谐波或任何其他原因，还发射不需要的射频发射。这样不需要的射频发射可以表示为杂散发射(spurious emission)。例如，针对ITU-R SM.329-7的提议中讨论的杂散发射。

为了在测试无线设备时测量杂散发射，可能期望执行无线设备的带中(in-band)信号的窄带测量和杂散发射的宽带测量。

在该背景下，本发明解决的问题是提供无线设备的多用途且简单的测量。

发明内容

本发明利用具有独立权利要求的特征的测量设备和测量方法来解决该问题。另外的实施例是从属权利要求的主题。

根据第一方面，提供了一种用于测量射频信号的测量设备。测量设备包括反射器、射频透镜和第一天线。反射器适于将射频信号聚焦到反射器的预定顶点。第一天线适于接收射频信号和/或发射射频信号。特别地，第一天线布置在反射器的顶点以外。射频透镜布置在反射器的顶点与第一天线之间，特别是第一天线的相位中心。

根据第二方面，提供了一种用于测量射频信号的测量方法。测量方法包括通过第一天线接收射频信号和/或通过第一天线发射射频信号的步骤。第一天线布置在反射器的顶点以外，其中反射器将射频信号聚焦到该顶点。另外，射频透镜布置在反射器的顶点与第一天线之间，特别是第一天线的相位中心。

本发明基于以下事实：测量射频信号，尤其是为了测试无线设备而测量射频信号可能需要测量与窄频带相关的带中信号，并且还测量其他的信号，例如与宽频带范围相关的杂散发射等。因此，不同类型的天线可以用于测量窄频带相关的信号，以及宽频率范围相关的信号。

然而，当通过多于一个的数量的天线来测量射频信号时，单个天线必须位于不同的空间位置。可替换地，不同的天线可以依次位于测量射频信号的相同空间位置。测量设备中的这样的变型需要用于绕所有天线移动的复杂系统。

因此，本发明的思想是提供一种能够测量射频信号的测量设备，特别是在反射器的预定顶点处的射频信号，其中单个天线可以位于不同的空间位置。特别地，本发明的思想是在测量设备中使用附加的射频透镜。这样的射频透镜可以将反射器的顶点映射到不同空间位置处的虚拟顶点。因此，附加的天线可以位于由射频透镜提供的相应虚拟顶点处。

反射器可以是适合反射射频信号的任何种类的反射器。例如，反射器可以是抛物线或圆柱形。然而，还可以是用于将射频波聚焦到预定顶点的任何其他形状的反射器。顶点可以位于例如反射器的中心，或者位于反射器中心以外的位置。

射频透镜可以是适合反射射频信号的电磁波的设备。特别地，射频透镜可以具有预定焦点。因此，反射器的顶点与射频透镜之间的距离，以及射频透镜与天线之间的距离，特别是天线的相位中心，可以根据射频透镜的焦点来设置。射频透镜可以包括用于反射射频波的任何适当的材料。此外，射频透镜的尺寸和形状可以适用于测量设备的期望性质。