[发明专利]测量设备和测量方法

权利要求书

1.一种用于测量射频信号的测量设备(100)，包括：

反射器(10)，其适于将射频信号聚焦到所述反射器(10)的预定顶点(V)；

第一天线(30)，其适于接收射频信号和/或发射射频信号，所述第一天线(30)布置在所述反射器(10)的顶点(V)以外；

射频透镜(20)，其布置在所述反射器(10)的顶点(V)与所述第一天线(30)之间；

第二天线(40)，其用于测量射频信号；以及

可移动天线载体(45)，其适于搭载所述第二天线(40)并且将所述第二天线(40)移动到第一位置，使得所述第二天线(40)位于所述反射器(10)的顶点(V)，或者将所述第二天线(40)移动到第二位置，使得所述第二天线(40)位于反射器(10)的顶点(V)以外。

2.根据权利要求1所述的测量设备(100)，其中所述射频透镜(20)适于将所述第一天线(30)的波束过焦到所述反射器(10)的顶点(V)。

3.根据权利要求1或2所述的测量设备(100)，其中所述第一天线(30)安装在相对于所述反射器(10)的固定位置。

4.根据权利要求1或2所述的测量设备(100)，包括机械定位结构(35)，其适于搭载所述第一天线(30)并且绕所述第一天线(30)移动。

5.根据权利要求4所述的测量设备(100)，其中所述机械定位结构(35)适于将第一天线(30)移动到所述反射器(10)的顶点(V)。

6.根据权利要求1所述的测量设备(100)，其中所述反射器(10)是紧凑型天线测试范围的反射器。

7.根据权利要求1所述的测量设备(100)，其中所述第一天线(30)和/或所述第二天线(40)包括喇叭天线。

8.根据权利要求1所述的测量设备(100)，其中所述第一天线(30)或者所述第二天线(40)包括宽带天线。

9.根据权利要求1所述的测量设备(100)，其中所述第一天线(30)的带宽不同于所述第二天线(40)的带宽。

10.根据权利要求1所述的测量设备(100)，包括测量处理器(50)，所述测量处理器(50)耦合到所述第一天线(30)和所述第二天线(40)，所述测量处理器(50)适于：如果所述第二天线(40)位于所述第一位置则执行第一测量，如果所述第二天线(40)位于所述第二位置则执行第二测量。

11.根据权利要求1所述的测量设备，包括测量腔室，所述测量腔室容纳所述反射器(10)、所述射频透镜(20)和所述第一天线(30)。

12.根据权利要求11所述的测量设备，其中所述测量腔室包括消声腔室。

13.一种用于测量射频信号的测量方法，包括：

通过第一天线(30)接收(S1)射频信号和/或通过所述第一天线(30)发射射频信号，

其中所述第一天线(30)布置在反射器(10)的顶点(V)以外，所述反射器(10)将射频信号聚焦在所述顶点(V)，并且射频透镜(20)布置在所述反射器的顶点(V)与所述第一天线(30)的相位中心之间；

将第二天线(40)移动(S2)到所述反射器(10)的顶点(V)并且执行第一测量；以及

将所述第二天线(40)移动(S1)到所述反射器(10)的顶点(V)以外并且执行第二测量。