[发明专利]图像分析方法及装置、电子设备、存储介质在审
| 申请号: | 201811023876.2 | 申请日: | 2018-09-04 |
| 公开(公告)号: | CN109272495A | 公开(公告)日: | 2019-01-25 |
| 发明(设计)人: | 刘贵芹 | 申请(专利权)人: | 北京慧影明图科技有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址: | 100080 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像 样本图像 存储介质 电子设备 图像分析 自动标注 标签 图像处理技术 标签生成 待测物体 图像标注 标注 扫描 | ||
1.一种图像分析方法,其特征在于,包括:
对待测物体进行扫描,以得到所述待测物体的样本图像;
对所述样本图像中的第一类图像进行标注得到所述第一类图像的标签,并根据所述第一类图像以及所述第一类图像的标签生成识别模型;
通过所述识别模型对所述样本图像中除第一类图像之外的第二类图像进行自动标注,以获取所述第二类图像的标签。
2.根据权利要求1所述的图像分析方法,其特征在于,对待测物体进行扫描,以得到所述待测物体的样本图像包括:
控制扫描设备采用第一预设精度并按照预设扫描顺序对所述待测物体的预设区域进行扫描,以得到所述样本图像。
3.根据权利要求2所述的图像分析方法,其特征在于,所述方法还包括:
通过向下采样算法对所述第一预设精度进行处理,得到与所述第一预设精度对应的第二预设精度;
控制所述扫描设备采用第二预设精度对目标物体进行扫描得到扫描图像;
通过所述识别模型对所述扫描图像进行自动标注,以得到所述扫描图像的标签。
4.根据权利要求3所述的图像分析方法,其特征在于,通过向下采样算法对所述第一预设精度进行处理,得到与所述第一预设精度对应的第二预设精度包括:
将第一预设精度对应的多个像素转换为一个像素,以得到与所述第一预设精度对应的所述第二预设精度。
5.根据权利要求1所述的图像分析方法,其特征在于,根据所述第一类图像以及所述第一类图像的标签生成用于标注图像的识别模型包括:
根据所述第一类图像以及所述第一类图像的标签对初始模型进行训练,以生成所述识别模型。
6.根据权利要求1所述的图像分析方法,其特征在于,通过所述识别模型对所述样本图像中除第一类图像之外的第二类图像进行自动标注,以获取所述第二类图像的标签包括:
通过所述识别模型对所述第二类图像进行自动标注,以判断是否能够通过所述识别模型得到所述第二类图像的初始标签;
根据是否能够得到所述第二类图像的初始标签确定所述第二类图像的标签。
7.根据权利要求6所述的图像分析方法,其特征在于,根据是否能够得到所述第二类图像的初始标签确定所述第二类图像的标签包括:
若能够确定所述第二类图像的所述初始标签,则对所述第二类图像的初始标签进行验证,并在验证通过时将所述第二类图像的初始标签确定为所述第二类图像的标签;
若无法确定所述第二类图像的所述初始标签,则对所述第二类图像进行人工标注,以确定所述第二类图像的标签。
8.根据权利要求1所述的图像分析方法,其特征在于,所述方法还包括:
每隔预设时长重新获取所述待测物体的样本图像,并基于重新获取的样本图像重新训练所述识别模型。
9.一种图像分析装置,其特征在于,包括:
图像获取模块,用于对待测物体进行扫描,以得到所述待测物体的样本图像;
模型生成模块,用于对所述样本图像中的第一类图像进行标注得到所述第一类图像的标签,并根据所述第一类图像以及所述第一类图像的标签生成识别模型;
标签确定模块,用于通过所述识别模型对所述样本图像中除第一类图像之外的第二类图像进行自动标注,以获取所述第二类图像的标签。
10.一种电子设备,其特征在于,包括:
处理器;以及
存储器,用于存储所述处理器的可执行指令;
其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行权利要求1-8任意一项所述的图像分析方法。
11.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-8任意一项所述的图像分析方法。
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