[发明专利]一种磁场传感器和制作工艺方法在审
申请号: | 201811020543.4 | 申请日: | 2018-09-03 |
公开(公告)号: | CN108975261A | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 赵晓锋;宋灿;温殿忠;张洪泉 | 申请(专利权)人: | 黑龙江大学 |
主分类号: | B81B1/00 | 分类号: | B81B1/00;B81B7/02;B81C1/00;G01R33/00 |
代理公司: | 北京康思博达知识产权代理事务所(普通合伙) 11426 | 代理人: | 刘冬梅;路永斌 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硅片 磁场传感器 制作工艺 磁敏三极管 微结构 导磁 磁场聚集 工业应用 立体结构 磁敏感 集成化 体积小 传感器 非磁 传导 测量 敏感 | ||
本发明公开了一种磁场传感器及其制作工艺,所述传感器包括第一硅片(1)和第二硅片(2),在所述第一硅片(1)上设置有一个呈立体结构的硅磁敏三极管,在所述第一硅片(1)和第二硅片(2)上分别设置一个聚/导磁微结构(4),其中,所述聚/导磁微结构(4)使得非磁敏感方向的磁场聚集和传导至硅磁敏三极管的磁敏感方向,以进行测量。本发明所述的磁场传感器,结构简单,体积小,集成化程度高,其制作工艺操作方便,易于实现,适合大规模工业应用。
技术领域
本发明涉及传感器技术领域,具体涉及一种测量非磁敏感方向磁场的磁场传感器及其制作工艺。
背景技术
随着科学技术的迅速发展,空间磁场矢量测量的需求显著提升,在地磁导航、电子罗盘、汽车电子、移动通讯等领域具有重要应用。
在现代传感器技术中,用于磁场检测的磁敏感元器件均具有确定的磁敏感方向,可完成沿x轴(或y轴、或z轴)的单一方向磁场测量。若要实现同一种磁敏感元器件对多个方向磁场矢量测量,可通过磁敏感元器件的组合和封装,但存在尺寸大、集成化程度低等问题;若采用不同磁敏感元器件进行组合、封装,则存在磁灵敏度一致性差、磁灵敏度交叉干扰大等问题。
因此,提供一种可以实现非磁敏感方向磁场的准确测量、体积小、集成化程度高的磁场传感器及其制作工艺,是目前亟需解决的问题。
发明内容
为了克服上述问题,本发明人进行了锐意研究,结果发现:在单晶硅上设置一个呈立体结构的硅磁敏三极管,并在硅磁敏三极管的两侧分别设置正向和反向聚/导磁微结构,使得聚/导磁微结构的导出磁场接近硅磁敏三极管的磁敏感区,且在聚/导磁微结构表面包裹由非磁性材料对内部磁场进行保磁,实现了对非磁敏感方向的磁场的聚集、高效传导和高精度检测,且该磁场传感器的体积小、集成化程度高,从而完成了本发明。
具体来说,本发明的目的在于提供以下方面:
第一方面,提供了一种磁场传感器,其中,所述传感器包括第一硅片1和第二硅片2,在所述第一硅片1上设置有一个呈立体结构的硅磁敏三极管,在所述第一硅片1和第二硅片2上分别设置一个聚/导磁微结构4,其中,所述聚/导磁微结构4使得非磁敏感方向的磁场聚集和传导至硅磁敏三极管的磁敏感方向,以进行测量。
其中,在所述第一硅片1的上表面、下表面以及第二硅片2的下表面均设置有二氧化硅层3,
优选地,所述二氧化硅层3的厚度为300~600nm。
其中,在所述第一硅片1的上表面制作有集电区6和基区,和/或
在所述第一硅片1的下表面相对于集电区的位置制作有发射区7,
优选地,所述集电区为n+型掺杂,基区为p+型掺杂,和/或
所述发射区为n+型掺杂。
其中,在所述第一硅片1的上表面、集电区6远离基区的一侧制作有集电极负载电阻RL,在第一硅片1的上表面、基区的一侧制作有基极负载电阻Rb,其中,
所述集电极负载电阻RL和基极负载电阻Rb均为n-型掺杂。
其中,在所述第一硅片1的上表面制作有正向聚/导磁微结构放置槽,用于正向放置聚/导磁微结构,
在所述第二硅片2的下表面制作有反向聚/导磁微结构放置槽,用于反向放置聚/导磁微结构。
其中,所述聚/导磁微结构4包括矩形台41和类梯形体42,其中,
所述矩形台41的横截面平行于第一硅片1和第二硅片2的上下表面。
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