[发明专利]一种磁场传感器和制作工艺方法在审

专利信息
申请号: 201811020543.4 申请日: 2018-09-03
公开(公告)号: CN108975261A 公开(公告)日: 2018-12-11
发明(设计)人: 赵晓锋;宋灿;温殿忠;张洪泉 申请(专利权)人: 黑龙江大学
主分类号: B81B1/00 分类号: B81B1/00;B81B7/02;B81C1/00;G01R33/00
代理公司: 北京康思博达知识产权代理事务所(普通合伙) 11426 代理人: 刘冬梅;路永斌
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 硅片 磁场传感器 制作工艺 磁敏三极管 微结构 导磁 磁场聚集 工业应用 立体结构 磁敏感 集成化 体积小 传感器 非磁 传导 测量 敏感
【权利要求书】:

1.一种磁场传感器,其特征在于,所述传感器包括第一硅片(1)和第二硅片(2),在所述第一硅片(1)上设置有一个呈立体结构的硅磁敏三极管,在所述第一硅片(1)和第二硅片(2)上分别设置一个聚/导磁微结构(4),其中,所述聚/导磁微结构(4)使得非磁敏感方向的磁场聚集和传导至硅磁敏三极管的磁敏感方向,以进行测量。

2.根据权利要求1所述的磁场传感器,其特征在于,在所述第一硅片(1)的上表面、下表面以及第二硅片(2)的下表面均设置有二氧化硅层(3),

优选地,所述二氧化硅层(3)的厚度为300~600nm。

3.根据权利要求1所述的磁场传感器,其特征在于,在所述第一硅片(1)的上表面制作有集电区(6)和基区,和/或

在所述第一硅片(1)的下表面相对于集电区的位置制作有发射区(7),

优选地,所述集电区为n+型掺杂,基区为p+型掺杂,和/或所述发射区为n+型掺杂。

4.根据权利要求3所述的磁场传感器,其特征在于,在所述第一硅片(1)的上表面、集电区(6)远离基区的一侧制作有集电极负载电阻(RL),在第一硅片(1)的上表面、基区的一侧制作有基极负载电阻(Rb),其中,

所述集电极负载电阻(RL)和基极负载电阻(Rb)均为n-型掺杂。

5.根据权利要求1所述的磁场传感器,其特征在于,在所述第一硅片(1)的上表面制作有正向聚/导磁微结构放置槽,用于正向放置聚/导磁微结构,

在所述第二硅片(2)的下表面制作有反向聚/导磁微结构放置槽,用于反向放置聚/导磁微结构。

6.根据权利要求5所述的磁场传感器,其特征在于,所述聚/导磁微结构(4)包括矩形台(41)和类梯形体(42),其中,

所述矩形台(41)的横截面平行于第一硅片(1)和第二硅片(2)的上下表面。

7.根据权利要求6所述的磁场传感器,其特征在于,所述类梯形体(42)的长底边对应的底面为聚磁平面,与聚磁平面相交的四个平面均为曲面,两两相对设置,包括第一曲面、第二曲面、第三曲面和第四曲面,其中,

所述第一曲面和第三曲面均与聚磁平面的长边相交,所述第二曲面和第四曲面均与聚磁平面的短边相交,

优选地,所述第一曲面和第三曲面的曲率半径为5mm-10mm,和/或

所述第二曲面和第四曲面的曲率半径为5mm-8mm。

8.根据权利要求1所述的磁场传感器,其特征在于,所述聚/导磁微结构(4)包括芯体和包裹膜,其中,所述芯体由高磁导率材料制成,以聚集和传导磁场,和/或

所述包裹膜为非磁性材料,以防止聚集的磁场流失;

优选地,所述高磁导率材料的相对磁导率为100-180。

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