[发明专利]一种光波导传输损耗测量方法

权利要求书

1.一种光波导传输损耗测量方法，其特征是包括如下步骤：

1)宽谱光源输出耦合到第一条光波导中，光波导传输后，通过光波导芯片耦合输出到高精度光谱仪中，光谱仪测得所形成的第一条F-P谐振器干涉条纹；

2)宽谱光源输出耦合到第二条不同长度的光波导中，光波导传输后，通过光波导芯片耦合输出到高精度光谱仪中，光谱仪测得所形成的第二条F-P谐振器干涉条纹；

3)光波导传输损耗测量方法推导过程如下所示：

光波在光波导两个端面反射形成F-P腔，设波导长度为L，输入光场强为E_in，光波导端面透射系数为t,反射系数为r，则输出光场强可表示为：

θ＝2πLn/λ，

式中θ为长度为L的光波导引起的相移，α为长度为L的光波导的幅度损耗因子；

输出光功率可表示为：

输出光功率最大值与最小值的差值，此处为对数的差值A，可表示为：

测量两条不同长度光波导时，长度分别为L₁和L₂，则有

将两个等式联合消除反射系数r，计算损耗因子，则有

进一步化简可得

式中A₁和A₂为两不同长度光波导形成的F-P谐振腔干涉条纹上最大光功率与最小光功率的差值，单位为dB，长度L₁和L₂单位为厘米，则传输损耗P_loss单位dB/cm；根据步骤1-2测量得到的两条F-P谐振器干涉条纹，利用所述光波导传输损耗与干涉条纹的关系公式计算光波导的传输损耗。

2.根据权利要求1所述的一种光波导传输损耗测量方法，其特征是所述步骤1)或2)中，宽谱光源通过光纤4与光波导芯片的耦合输入口5进行耦合，光波经过光波导传输后由光波导芯片的耦合输出口6输出到光纤中，并接入高精度光谱仪3进行测量，得到干涉条纹。

3.根据权利要求1所述的一种光波导传输损耗测量方法，其特征是所述宽谱光源为自发辐射激光源。

4.根据权利要求1所述的一种光波导传输损耗测量方法，其特征是所述光波导芯片含有两条不同长度的光波导。

5.根据权利要求1所述的一种光波导传输损耗测量方法，其特征是所述光波导芯片采用水平端面耦合或者垂直光栅耦合方式与光纤连接。