[发明专利]一种检测磁屏蔽材料磁屏蔽性能的测试系统和测试方法

说明书

本发明提供一种检测磁屏蔽材料磁屏蔽性能的测试系统和测试方法，测试系统包括：用于检测磁屏蔽材料的磁屏蔽性能的光电倍增管PMT；位于光电倍增管输入侧的光源组件；控制系统，用于控制所述光源组件发出输入光电倍增管的脉冲光信号，位于光电倍增管输出侧的测量系统，用于检测所述光电倍增管输出的电信号；所述测量系统与所述控制系统连接，所述控制系统根据测量系统检测的电信号获取最后的测试结果。利用本发明的测试系统进行磁屏蔽材料测试的方法可以比较不同材料在低磁场下磁屏蔽的微小差异。

技术领域

本发明涉及光电倍增管检测技术，特别是一种检测磁屏蔽材料磁屏蔽性能的测试系统和测试方法。

背景技术

光电倍增管是一种技术成熟，使用广泛的光探测器件，广泛应用于光子计数、极微弱光探测、化学发光、生物发光研究、极低能量射线探测、分光光度计、旋光仪、色度计、照度计、尘埃计、浊度计、光密度计、热释光量仪、辐射量热计、扫描电镜、生化分析仪等仪器设备中。

光电倍增管本身是其结构与工作原理决定了器件本身对磁场具有极高敏感性，如图1(a)所示，光电倍增管的打拿级之间通过加高电压，形成电场，光阴极打出的负电子沿电场方向运动，每经过一级打拿级电子数倍增，打拿级前级产生的电子较少，后级程指数增长。如图1(b)所示，如果在前级加一个磁场，电子会改变运动方向，打到前级打拿级上的电子数就会产生改变，可能多也可能少，但是由于指数倍增，会把这个差异进一步放大，实际到达阳极电子数变化是可被测量的。

电磁屏蔽在很多的电性环境和通讯领域有着广泛的应用，光电倍增管自身的许多应用场景也需要这样的电磁屏蔽，为此，测量屏蔽材料性能和屏蔽效果对屏蔽材料的应用有广泛的意义。

发明内容

本发明的目的是提供一种检测磁屏蔽材料磁屏蔽性能的测试系统和测试方法，利用测试系统进行测试的方法可以比较不同材料在低磁场下磁屏蔽的微小差异。

本发明的技术方案如下：

第一方面，本发明提供一种检测磁屏蔽材料磁屏蔽性能的测试系统，包括：

用于检测磁屏蔽材料的磁屏蔽性能的光电倍增管PMT；

位于光电倍增管输入侧的光源组件；

控制系统，用于控制所述光源组件发出输入光电倍增管的脉冲光信号，

位于光电倍增管输出侧的测量系统，用于检测所述光电倍增管输出的电信号；

所述测量系统与所述控制系统连接，所述控制系统根据测量系统检测的电信号获取最后的测试结果。

可选地，所述光源组件包括：

LED光源和分光组件；

所述分光组件将LED光源发出的点光源转换为均匀的面光源，且使得面光源的光照强度在所述PMT的线性测量区间。

可选地，所述分光组件包括：

设置在LED光源前方的第一磨砂光导，第一遮光片和第二遮光片；

所述第一磨砂光导，第一遮光片间隔预设距离设置，所述第一遮光片和第二遮光片靠近所述光电倍增管输入侧设置；

所述第一磨砂光导、第二遮光片和第二遮光片均固定在具有黑色避光层的外壳内，所述外壳开口与所述光电倍增管输入侧配合。

可选地，所述控制系统包括：

采集计算机，脉冲产生器、逻辑门电路；

所述采集计算机与所述脉冲产生器连接，输出控制脉冲的电信号至所述脉冲产生器，所述脉冲产生器产生用于输入LED光源的脉冲信号，以及产生用于输入逻辑门电路的门信号；