[发明专利]一种检测磁屏蔽材料磁屏蔽性能的测试系统和测试方法

权利要求书

1.一种检测磁屏蔽材料磁屏蔽性能的测试系统，其特征在于，包括：

用于检测磁屏蔽材料的磁屏蔽性能的光电倍增管PMT，所述磁屏蔽材料为片状磁屏蔽材料且用于包裹光电倍增管；

位于光电倍增管输入侧的光源组件；

控制系统，用于控制所述光源组件发出输入光电倍增管的脉冲光信号，

位于光电倍增管输出侧的测量系统，用于检测所述光电倍增管输出的电信号；

所述测量系统与所述控制系统连接，所述控制系统根据测量系统检测的电信号获取最后的测试结果；

垂直于PMT方向的用于控制磁场强度的磁场源。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述光源组件包括：

LED光源和分光组件；

所述分光组件将LED光源发出的点光源转换为均匀的面光源，且使得面光源的光照强度在所述PMT的线性测量区间。

3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述分光组件包括：

设置在LED光源前方的第一磨砂光导，第一遮光片和第二遮光片；

所述第一磨砂光导，第一遮光片间隔预设距离设置，所述第一遮光片和第二遮光片靠近所述光电倍增管输入侧设置；

所述第一磨砂光导、第一遮光片和第二遮光片均固定在具有黑色避光层的外壳内，所述外壳开口与所述光电倍增管输入侧配合。

4.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述控制系统包括：

采集计算机，脉冲产生器、逻辑门电路；

所述采集计算机与所述脉冲产生器连接，输出控制脉冲的电信号至所述脉冲产生器，所述脉冲产生器产生用于输入LED光源的脉冲信号，以及产生用于输入逻辑门电路的门信号；

所述逻辑门电路根据所述门信号向测量系统的ADC输入采集控制信号。

5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述测量系统包括：

高压电路、分压电路；整形放大电路和ADC；

其中，所述高压电路连接所述采集计算机，并根据所述采集计算机输出的高压控制信号经过分压电路输入所述PMT；

所述PMT输出的电信号经过整形放大电路放大，所述ADC依据所述采集控制信号对放大的电信号进行处理，获得用于存入所述采集计算机的采集信号；所述采集计算机依据所述采集信号获取测试结果。

6.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，LED光源为固定幅度的高频脉冲弱光源。

7.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述磁场源为固定在所述PMT区域的磁体。

8.一种基于权利要求1至7任一所述的测试系统的测试方法，其特征在于，包括：

在光电倍增管外围放置一个外磁场，获取第一测试结果；

将待测的片状磁屏蔽材料包裹测试系统的光电倍增管，在所述光电倍增管外围的外磁场中，获取第二测试结果；

或者，调整磁体与所述光电倍增管之间的距离，以改变外磁场强度，获取第N个测试结果，N为大于2的自然数；

根据所述第一测试结果和第二测试结果/一系列第N个测试结果，获取待测的片状磁屏蔽材料的磁导率。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，

根据所述第一测试结果和第二测试结果/一系列第N个测试结果，进行直线拟合Y=aX+b；a表示斜率，值越大，磁屏蔽效果越差；

根据a值的大小判断待测的片状磁屏蔽材料的屏蔽效果。