[发明专利]一种基于电磁震动的轻触开关引脚检测设备

权利要求书

1.一种基于电磁震动的轻触开关引脚检测设备，包括电磁震动盘、以及设置在电磁震动盘内部结构呈三层螺旋面，第一层上升螺旋斜面、第二层上升螺旋斜面和第三层上升螺旋斜面，其特征在：且电磁震动盘底部以及三层螺旋进料面均呈一定的倾度，倾斜角为15°；所述电磁震动盘出口环面设置螺旋筛选轨道，在螺旋筛选轨道上设置有缺陷引脚检测口；在螺旋筛选轨道末端设置了一个定向机构，定向机构包括定向圆环、定向挡条、一级加速斜面和二级加速斜面；螺旋筛选轨道末端与定向圆环连接，且定向圆环的直径和螺旋筛选轨道的宽度相等；一级加速斜面和二级加速斜面连接且位于定向圆环下方，定向挡条设置在一级加速斜面和二级加速斜面处；定向机构的末端设置有由一段弧形细圆杆构成的缺陷元件二次筛选杆；

轻触开关元件放进电磁震动盘内，轻触开关元件从底部斜面的进入螺旋面，分别沿着第一层螺旋上升斜面、第二层螺旋上升斜面和第三层螺旋上升斜面依次上升到螺旋筛选轨道；当轻触开关元件的引脚所在边与螺旋筛选轨道平行，且引脚结构无明显损伤或变形时，轻触开关元件可从缺陷引脚检测口通过；否则从缺陷引脚检测口掉到第二层螺旋上升斜面上，重新进行筛选；

经缺陷引脚检测口的轻触开关沿着螺旋筛选轨道进入定向机构，元件通过螺旋筛选轨道的末端进入定向圆环，经过一级加速斜面、二级加速斜面与定向挡条后，轻触开关元件由倾斜的轨道进入垂直轨道；同时，在定向机构处设置二次筛选杆，使得通过定向机构的引脚结构有变形缺陷的元件进行二次筛选；通过所有筛选的轻触开关元件进入垂直的送料轨道。