[发明专利]一种尺寸测量方法、设备及存储介质

权利要求书

1.一种尺寸测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

检测是否有物体靠近尺寸测量设备；

感应环境的亮度是否变暗，并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间；

当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时，计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度；

根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度。

2.根据权利要求1所述的尺寸测量方法，其特征在于，所述预设时间为5秒。

3.根据权利要求1所述的尺寸测量方法，其特征在于，所述感应环境亮度是否变暗，并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间的步骤包括：

感应环境的亮度，并在环境亮度变亮时输出高电平脉冲信号，在环境亮度变暗时输出低电平脉冲信号；

判断是否检测到低电平脉冲信号，并计算低电平脉冲信号的稳定输出时间；

判断低电平脉冲信号的稳定输出时间是否达到预设时间。

4.根据权利要求3所述的尺寸测量方法，其特征在于，所述当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时，计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度的步骤包括：

当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时，发出角度测量指令；

根据角度测量指令检测所述待测物体的起点和终点，同时还检测所述尺寸测量设备的起点和终点；

计算所述待测物体的起点和终点的连线与预设参考面之间的夹角，以及所述尺寸测量设备的起点和终点的连线与预设参考面之间的夹角。

5.根据权利要求4所述的尺寸测量方法，其特征在于，所述根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度的步骤包括：

计算出所述待测物体的倾斜角度与尺寸测量设备的倾斜角度的角度差值，并记作α；

找出待测物体的终点在所述尺寸测量设备上的映射点，其中，所述映射点为以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆与尺寸测量设备的交点；

计算出以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆中，待测物体的终点到映射点的圆弧长度值，并记作L2；

根据角度差值和圆弧长度值计算出待测物体的长度。

6.根据权利要求5所述的尺寸测量方法，其特征在于，所述待测物体的长度的计算公式为：，其中L表示待测物体的长度，L2表示以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆中，待测物体的终点到映射点的圆弧长度值，α表示待测物体的倾斜角度与尺寸测量设备的倾斜角度的角度差值。

7.根据权利要求6所述的尺寸测量方法，其特征在于，还包括：

当检测到环境亮度在预设时间内呈明暗变化时，不检测物体的长度。

8.根据权利要求1-7任意一项所述的尺寸测量方法，其特征在于，所述尺寸测量设备为移动终端或平板。

9.一种尺寸测量设备，其特征在于，包括处理器，以及与所述处理器连接的存储器，所述存储器存储有计算机程序，该计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-8任意一项所述的尺寸测量方法中的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8任意一项所述的尺寸测量方法中的步骤。