[发明专利]一种图像数据获取方法、装置及系统有效
| 申请号: | 201810958863.8 | 申请日: | 2018-08-22 |
| 公开(公告)号: | CN110857855B | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
| 发明(设计)人: | 杨少鹏;孙元栋;李光辉 | 申请(专利权)人: | 杭州海康机器人技术有限公司 |
| 主分类号: | G01C11/14 | 分类号: | G01C11/14;H04N9/31 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 张聪聪;马敬 |
| 地址: | 310051 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 图像 数据 获取 方法 装置 系统 | ||
本发明实施例提供了一种图像数据获取方法、装置及系统,方法包括:投影仪针对待测量物体,按照不同的曝光时间投射测量结构光;相机采集每次投射结构光的光栅图像;电子设备在每张光栅图像中确定亮度值满足条件的有效区域;将所确定的每个有效区域进行拼接,得到有效图像数据。假设同时针对表面反射率大的物体A和表面反射率小的物体B采集光栅图像,由于投影仪的曝光时间不同,则一部分光栅图像中A清晰,一部分光栅图像中B清晰,将A清晰的图像区域与B清晰的图像区域进行拼接,得到的图像数据中A和B的清晰度均较高。
技术领域
本发明涉及三维测量技术领域,特别是涉及一种图像数据获取方法、装置及系统。
背景技术
利用结构光进行三维测量的方案一般包括:投影仪投射结构光,结构光照射到待测量物体上形成投影光栅;相机对该投影光栅进行采集,得到光栅图像;计算机根据该光栅图像,计算待测量物体的测量数据。
不同材质表面的反射率不同,如果待测量物体表面的反射率较大,则对应的投影仪曝光时间应该小一些,才能获取到较清晰的光栅图像;如果待测量物体表面的反射率较小,则对应的投影仪曝光时间应该大一些,才能获取到较清晰的光栅图像。
但是,若同时针对表面反射率大的物体和表面反射率小的物体,采集光栅图像,则不能获得清晰的光栅图像。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种图像数据获取方法、装置及系统,以获得清晰的光栅图像。
为达到上述目的,本发明实施例提供了一种图像数据获取方法,包括:
获取N张第一光栅图像;其中,所述N为大于1的正整数,所述第一光栅图像为:投影仪按照不同的曝光时间投射的测量结构光对应的图像;
针对每张第一光栅图像,在该张第一光栅图像中确定亮度值满足条件的第一有效区域;
将所确定的每个第一有效区域进行拼接,得到有效图像数据。
可选的,所述方法还包括:
获取所述N张第二光栅图像,所述第二光栅图像为:投影仪按照所述不同的曝光时间投射的单一亮度值结构光对应的图像;
分别在每张第二光栅图像中确定亮度值满足条件的区域,作为第二有效区域;
所述在该张第一光栅图像中确定亮度值满足条件的第一有效区域,包括:
将与该张第一光栅图像对应的投影仪曝光时间相同的第二光栅图像中的第二有效区域映射至该张第一光栅图像中,得到第一有效区域。
可选的,所述分别在每张第二光栅图像中确定亮度值满足条件的区域,作为第二有效区域,包括:
在未被分割的第二光栅图像中确定待分割图像;所述未被分割的第二光栅图像为:未确定第二有效区域的第二光栅图像;
将所述待分割图像中亮度值满足预设条件的区域,作为第二有效区域。
可选的,所述在未被分割的第二光栅图像中确定待分割图像,包括:
将曝光时间最小的第二光栅图像确定为待分割图像;和/或
按照曝光时间由小到大的顺序,选择除曝光时间最小的第二光栅图像外的未被分割的第二光栅图像;将所选择的第二光栅图像,除去与其他第二光栅图像中已确定为第二有效区域对应的区域后确定为待分割图像。
可选的,所述将所述待分割图像中亮度值满足预设条件的区域,作为第二有效区域,包括:
确定所述待分割图像对应的亮度阈值;
将所述待分割图像中亮度值大于所述亮度阈值的区域确定为第二有效区域。
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