[发明专利]一种图像数据获取方法、装置及系统

权利要求书

1.一种图像数据获取方法，其特征在于，包括：

获取N张第一光栅图像；其中，所述N为大于1的正整数，所述第一光栅图像为：投影仪按照不同的曝光时间投射的测量结构光对应的图像；

针对每张第一光栅图像，在该张第一光栅图像中确定亮度值满足条件的第一有效区域；

将所确定的每个第一有效区域进行拼接，得到有效图像数据；

其中，所述获取N张第一光栅图像，包括：

分别确定每个待测量物体对应的最优曝光时间；

控制投影仪分别按照所确定的各最优曝光时间投射测量结构光；

获取每次投射的测量结构光对应的光栅图像，作为第一光栅图像；

所述方法还包括：

获取所述N张第二光栅图像，所述第二光栅图像为：投影仪按照所述不同的曝光时间投射的单一亮度值结构光对应的图像；

分别在每张第二光栅图像中确定亮度值满足条件的区域，作为第二有效区域；

所述在该张第一光栅图像中确定亮度值满足条件的第一有效区域，包括：

将与该张第一光栅图像对应的投影仪曝光时间相同的第二光栅图像中的第二有效区域映射至该张第一光栅图像中，得到第一有效区域。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别在每张第二光栅图像中确定亮度值满足条件的区域，作为第二有效区域，包括：

在未被分割的第二光栅图像中确定待分割图像；所述未被分割的第二光栅图像为：未确定第二有效区域的第二光栅图像；

将所述待分割图像中亮度值满足预设条件的区域，作为第二有效区域。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在未被分割的第二光栅图像中确定待分割图像，包括：

将曝光时间最小的第二光栅图像确定为待分割图像；和/或

按照曝光时间由小到大的顺序，选择除曝光时间最小的第二光栅图像外的未被分割的第二光栅图像；将所选择的第二光栅图像，除去与其他第二光栅图像中已确定为第二有效区域对应的区域后确定为待分割图像。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述待分割图像中亮度值满足预设条件的区域，作为第二有效区域，包括：

确定所述待分割图像对应的亮度阈值；

将所述待分割图像中亮度值大于所述亮度阈值的区域确定为第二有效区域。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在该张第一光栅图像中确定亮度值满足条件的第一有效区域，包括：

将该张第一光栅图像输入至预先训练得到的神经网络模型，根据所述神经网络模型的输出结果确定第一有效区域；其中，所述神经网络模型以光栅图像样本为输入、以光栅图像样本中分割的图像区域的坐标为监督、训练得到。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别确定每个待测量物体对应的最优曝光时间，包括：

针对每个待测量物体，获取该待测量物体对应的多张第三光栅图像；其中，所述第三光栅图像为：投影仪依次按照所设定的各曝光时间、向该待测量物体投射的结构光对应的图像；

确定所述多张第三光栅图像中的亮度参数，所述亮度参数为表示亮度分布范围的参数；

根据所确定的亮度参数，在所设定的曝光时间中确定该待测量物体对应的最优曝光时间。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述确定所述多张第三光栅图像中的亮度参数，包括：

计算所设定的初始曝光时间对应的结构光的有效亮度范围，作为第一亮度参数；

确定第三光栅图像亮度值与其对应的结构光亮度值的斜率，作为第二亮度参数；

所述根据所确定的亮度参数，在所设定的曝光时间中确定该待测量物体对应的最优曝光时间，包括：

判断所述初始曝光时间对应的结构光的有效亮度范围的最大值是否大于第一预设阈值；

如果大于，在所设定的、大于所述初始曝光时间中，确定所述斜率的拐点对应的曝光时间，作为该待测量物体对应的最优曝光时间。