[发明专利]一种摄像头污点检测方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号: | 201810958638.4 | 申请日: | 2018-08-22 |
| 公开(公告)号: | CN109118498B | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
| 发明(设计)人: | 吴华鑫;胡诗卉 | 申请(专利权)人: | 科大讯飞股份有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/11 | 分类号: | G06T7/11;G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王云晓;王宝筠 |
| 地址: | 230088 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 摄像头 污点 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种摄像头污点检测方法,其特征在于,包括:
获取目标场景下的目标图像序列,所述目标图像序列包括目标图像和所述目标图像之前和/或之后的N帧图像,其中,N为大于等于1的整数;
基于所述目标图像序列确定所述目标图像对应的统计特征,并基于所述统计特征确定所述目标图像中的污点遮挡区域,其中,所述目标图像对应的统计特征为所述目标图像序列的时域统计特征;
通过预先建立的污点检测模型,从所述目标图像中检测出污点遮挡区域;
将基于所述统计特征确定出的污点遮挡区域和通过所述污点检测模型检测出的污点遮挡区域进行融合,得到所述目标图像最终的污点检测结果。
2.根据权利要求1所述的摄像头污点检测方法,其特征在于,所述基于所述目标图像序列确定所述目标图像对应的统计特征,包括:
计算所述目标图像序列的时域均值,获得均值统计图,作为所述目标图像对应的目标均值统计图;
和/或,计算所述目标图像序列的时域方差,获得方差统计图,作为所述目标图像对应的目标方差统计图;
将所述目标均值统计图、或所述目标方差统计图、或将所述目标均值统计图和所述目标方差统计图进行融合后得到的融合统计图作为所述目标图像对应的统计特征。
3.根据权利要求2所述的摄像头污点检测方法,其特征在于,所述基于所述统计特征确定所述目标图像中的污点遮挡区域,包括:
基于设定的二值化阈值对目标统计图进行二值化,二值化后得到图像作为所述目标图像对应的污点检测结果图;
其中,所述目标统计图为所述目标均值统计图、或所述目标方差统计图、或所述融合统计图;所述目标图像中的污点遮挡区域为与所述污点检测结果图中像素值为第一目标值的像素点组成的区域对应的区域。
4.根据权利要求3所述的摄像头污点检测方法,其特征在于,所述基于所述统计特征确定所述目标图像中的污点遮挡区域,还包括:
获取所述目标图像之前和/或之后的至少一帧图像中各帧图像对应的污点检测结果图;
将所述目标图像对应的污点检测结果图、所述目标图像之前和/或之后的至少一帧图像中各帧图像对应的污点检测结果图进行融合,融合后的图像作为所述目标图像最终对应的污点检测结果图。
5.根据权利要求4所述的摄像头污点检测方法,其特征在于,所述将所述目标图像对应的污点检测结果图、所述目标图像之前和/或之后的至少一帧图像对应的污点检测结果图进行融合,包括:
将所述目标图像对应的污点检测结果图、所述目标图像之前和/或之后的至少一帧图像中各帧图像对应的污点检测结果图进行逻辑与操作。
6.根据权利要求4或5所述的摄像头污点检测方法,其特征在于,所述通过预先建立的污点检测模型,从所述目标图像中检测出污点遮挡区域,包括:
将所述目标图像输入预先建立的所述污点检测模型,获得所述污点检测模型输出的污点遮挡区域分割图;
其中,所述污点检测模型以所述目标场景下的污点遮挡图像为训练样本,以对所述污点遮挡图像中污点遮挡区域的各个像素采用第三目标值进行标注、对其它区域的各个像素采用第四目标值进行标注的标注结果为样本标签进行训练得的;
其中,所述目标图像中的污点遮挡区域为与所述污点区域分割图中像素值为所述第三目标值的像素点组成的区域对应的区域。
7.根据权利要求6所述的摄像头污点检测方法,所述将基于所述统计特征确定出的污点遮挡区域和通过所述污点检测模型检测出的污点遮挡区域进行融合,得到所述目标图像最终的污点检测结果,包括:
将所述目标图像对应的污点检测结果图与所述污点区域分割图进行逻辑与操作,逻辑与操作的结果作为所述目标图像最终的污点检测结果。
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