[发明专利]一种非晶合金USB接口及其制备方法

说明书

本发明公开了一种非晶合金USB接口，包括：中空接口及设于接口底部的固定部，所述中空接口由两侧的侧边插接部以及顶端、底端的平行插接部合围而成；所述固定部、侧边插接部、平行插接部中的至少一组由非晶合金制成。本发明中的非晶合金USB接口在插拔区域相对常规USB接口的材料强度高，常规使用难以出现超越非晶合金强度极限的情况，从而不会出现使用中破损的现象。

技术领域

本发明属于新材料领域，具体涉及一种包含非晶合金的USB接口及其制备方法。

背景技术

现有的消费类电子产品往往需要通过数据线与外部通信装置进行数据资源的互通，在现有设计中，考虑到消费类电子产品的便携性和设计感，往往将充电装置与数据连接装置统一，这样的设计不仅能够节约设计空间，而且非常有利于消费类电子产品的重量控制。尽管现有技术中的上述设计广泛被应用于各种不同的消费类电子产品中，如智能手机、平板电脑、智能穿戴式设备等，在这种设计下会导致电子产品中数据线与电子产品本体连接处的位置插拔使用非常频繁，从而导致该连接处的使用寿命，而连接处的使用寿命直接影响到该电子产品的使用体验。

现有技术中USB接口常使用塑料和金属两大类的材料制成，塑料接口由于强度低、易变形、易老化变色等缺点导致使用寿命短，同时由于塑料接口外形与目前金属化的设计趋势不符，越来越退出历史的舞台。随着消费类电子产品的更新换代，金属材质的USB固定接口已经占据了更为重要的位置。金属类的接口在使用效果方面相对于塑料产品具有非常大的优势，常用的接口材料为不锈钢材料或者铝合金材料。常用的金属材料尽管比起塑料具有优势，但是在消费类电子产品整体的使用时间和使用频率持续大幅上涨的情况下，仍旧存在长期多次使用后变形的缺点，，而且不锈钢或者铝合金材料制成的接口在长期使用过程中容易受到外界环境的腐蚀影响接口处的外观，也容易造成接口处插拔力的增加，影响消费者的使用体验。

发明内容

为了解决所述现有技术的不足，本发明提供了一种具有高强度、高硬度特点的非晶合金制成的USB接口，同时提供了该接口的制备方法。

本发明所要达到的技术效果通过以下方案实现：

本发明中提供的非晶合金USB接口，包括：

中空接口及设于接口底部的固定部，所述中空接口由两侧的侧边插接部以及顶端、底端的平行插接部合围而成；

所述固定部、侧边插接部、平行插接部中的至少一组由非晶合金制成。

进一步地，由非晶合金制成的结构部分厚度为非非晶合金结构部分的20-50%。

进一步地，所述接口中非晶合金部分弹性极限为0.8-1.4%，维氏硬度为350-900HV，抗拉强度为1200-1800MPa，支架厚度为0.2-0.4mm。

进一步地，所述非晶合金部分为锆基非晶合金，其成分组成为(Zr，Hf)_aTi_b(Cu，Ni)_c(Al，Be，Mg)_d(Y，C)_e，其中a、b、c、d、e每个独立地表示原子百分比，42≤a≤55、6≤b≤12、16≤c≤24、14≤d≤23、0.5≤e≤2。

进一步地，所述非晶合金部分为镍基非晶合金，其成分组成为Ni_a(Zr，Hf，Ta，Ti)_b(Si，B)_cNb_d，其中a、b、c、d每个独立地表示原子百分比，52≤a≤64、20≤b≤40、0.2≤c≤4、5≤d≤18。

进一步地，所述非晶合金部分为钛基非晶合金，其成分组成为(Ti，Zr)_aCu_bNi_c(Si，Sn，Al，B)_d，其中a、b、c、d每个独立地表示原子百分比，50≤a≤65、20≤b≤35、7≤c≤20、1≤d≤6。