[发明专利]探针检测辅助装置和产品底部的探针检测方法

说明书

本发明涉及一种探针检测辅助装置，包括：旋转座和枢接在旋转座上的摆臂。其中，摆臂与旋转座构成杠杆结构。摆臂相对的两端均为自由端。摆臂的一端设有第一探测部。第一探测部用于抵接探针。摆臂相对的另一端设有第二探测部。第二探测部用于抵接产品。同时，还提供一种蟾皮那地步的探针检测方法。本发明的有益效果为：通过间接测量的方式得到产品底部的检测点的高度位置参数，提高加工的精度和可靠性，提高产品的良率。

技术领域

本发明涉及电子产品检测技术领域，特别是涉及一种探针检测辅助装置和一种产品底部的探针检测方法。

背景技术

电子产品的制造加工对于作业精度要求非常高，因此，在加工时经常需要利用探针对工件的轮廓进行检测，以确定各个加工位的位置参数(例如先要确定加工的基准面，然后根据与该基准面的相对距离，精确定位加工位置)。探针的检测受到其自身结构的限制，其一般只能通过探针侧靠或者向下顶等物理接触的方式来触发探针感应器。

对于检测位置在工件的底部(此处是指在工件在夹具上固定后，工件的检测点处于工件的下端)的情况，在不改变工件当前的装夹姿态的前提下，探针没办法进行测量(探针从下往上拉的方式会损坏探针感应器)，意味着无法利用探针去测量出加工时所需的精确的基准面的高度位置参数。在后续加工中，由于缺乏精确的基准面的高度位置参数，会导致工件因为装夹(实际装夹时的装夹不良)或者产品累计误差(为了测量工件的底部而更换工件的装夹姿态，测量条件变更的过程中会出现累计误差)，降低了加工的精度和可靠性，最终导致产品不良。

发明内容

基于此，本发明提供一种探针检测辅助装置，其通过旋转座和枢接在旋转座上的摆臂构建出杠杆结构。使用时，将旋转座固定在产品夹具上，并且将摆臂上的第二探测部与产品底部的检测点相对，然后利用探针向下压迫第一探测部，使得第二探测部抬起直到与产品底部的检测点抵接。在产品的阻碍下，摆臂无法继续转动，探针记录第一探测部下降后的高度位置参数，并且结合该杠杆结构的几何关系，换算为第二探测部上升后的高度位置参数，通过间接测量的方式得到产品底部的检测点的高度位置参数，提高加工的精度和可靠性，提高产品的良率。

一种探针检测辅助装置，包括：

旋转座；以及

枢接在旋转座上的摆臂；摆臂与旋转座构成杠杆结构；摆臂相对的两端均为自由端；摆臂的一端设有第一探测部；第一探测部用于抵接探针；摆臂相对的另一端设有第二探测部；第二探测部用于抵接产品。

上述探针检测辅助装置，其通过旋转座和枢接在旋转座上的摆臂构建出杠杆结构。使用时，将旋转座固定在产品夹具上，并且将摆臂上的第二探测部与产品底部的检测点相对，然后利用探针向下压迫第一探测部，使得第二探测部抬起直到与产品底部的检测点抵接。在产品的阻碍下，摆臂无法继续转动，探针记录第一探测部下降后的高度位置参数，并且结合该杠杆结构的几何关系，换算为第二探测部上升后的高度位置参数，通过间接测量的方式得到产品底部的检测点的高度位置参数，提高加工的精度和可靠性，提高产品的良率。

在其中一个实施例中，第一探测部的力臂长度L1与第二探测部的力臂长度L2的比值为1:1。当第一探测部的力臂长度L1与第二探测部的力臂长度L2等长时，第一探测部的下移距离h1和第二探测部的上移距离h2等长，此时可以快速换算出产品底部的检测点的高度位置参数。

在其中一个实施例中，第一探测部的顶端为尖端结构；第二探测部的顶端为尖端结构。尖端结构设置的第一探测部和第二探测部，有利于确保探针与摆臂的触碰点以及产品与摆臂的触碰点的准确性。

在其中一个实施例中，旋转座包括：底座和穿设在底座上的转轴；转轴穿设在摆臂上。组装时，先将摆臂放置在底座上预设的位置，然后通过转轴将底座与摆臂穿设在一起，完成枢接组合。

同时，提供一种产品底部的探针检测方法。

一种产品底部的探针检测方法，包括步骤：