[发明专利]探针检测辅助装置和产品底部的探针检测方法

权利要求书

1.一种探针检测辅助装置，其特征在于：包括：

旋转座；以及

枢接在所述旋转座上的摆臂；所述摆臂与所述旋转座构成杠杆结构；所述摆臂相对的两端均为自由端；所述摆臂的一端设有第一探测部；所述第一探测部用于抵接探针；所述摆臂相对的另一端设有第二探测部；所述第二探测部用于抵接产品。

2.根据权利要求1所述的探针检测辅助装置，其特征在于，所述第一探测部的力臂长度L1与所述第二探测部的力臂长度L2的比值为1:1。

3.根据权利要求1所述的探针检测辅助装置，其特征在于，所述第一探测部的顶端为尖端结构；所述第二探测部的顶端为尖端结构。

4.根据权利要求1所述的探针检测辅助装置，其特征在于，所述旋转座包括：底座和穿设在所述底座上的转轴；所述转轴穿设在所述摆臂上。

5.一种产品底部的探针检测方法，其特征在于，包括步骤：

将探针检测辅助装置安装在夹具上；所述探针检测辅助装置包括：旋转座和枢接在所述旋转座上的摆臂；所述摆臂与所述旋转座构成杠杆结构；所述摆臂相对的两端均为自由端；所述摆臂的一端设有第一探测部；所述第一探测部用于抵接探针；所述摆臂相对的另一端设有第二探测部；所述第二探测部用于抵接产品；将产品装夹在夹具上，所述产品的底部朝下设置并且使得所述第二探测部与所述产品底部的检测点相对；

探针移动至与所述第一探测部相对的位置，并且所述探针向下移动并且压迫所述第一探测部；所述第一探测部下移，所述第二探测部上移直至抵靠在产品底部的检测点上，所述探针记录当前的高度位置参数；

根据所述探针检测到的高度位置参数得到第一探测部的下移距离h1；根据所述探针检测辅助装置的杠杆结构的几何关系，得到所述第一探测部的下移距离h1与所述第二探测部的上移距离h2的相似比X；所述第二探测部的上移距离h2＝h1/X；根据h2得到产品底部的检测点的高度位置参数。

6.根据权利要求5所述的产品底部的探针检测方法，其特征在于，所述第一探测部的下移距离h1与所述第二探测部的上移距离h2的相似比X的获取方法为：

测量所述第一探测部的力臂长度L1和所述第二探测部的力臂长度L2；

根据相似三角形的定义可以确定相似比X＝L1/L2。

7.根据权利要求5所述的产品底部的探针检测方法，其特征在于，所述第一探测部的力臂长度L1与所述第二探测部的力臂长度L2的比值为1:1。

8.根据权利要求5所述的产品底部的探针检测方法，其特征在于，将所述探针获取到的高度位置参数与所述摆臂在水平状态时的高度位置参数求差得到所述第一探测部的下移距离h1；将所述摆臂在水平状态时的高度位置参数与所述第二探测部的上移距离h2求和得到产品底部的检测点的高度位置参数。

9.根据权利要求5所述的产品底部的探针检测方法，其特征在于，所述第一探测部的顶端为尖端结构；所述第二探测部的顶端为尖端结构。

10.根据权利要求5所述的产品底部的探针检测方法，其特征在于，所述旋转座包括：底座和穿设在所述底座上的转轴；所述转轴穿设在所述摆臂上。