[发明专利]一种线路反射谐振点的测试方法、测试装置以及存储介质

说明书

本申请公开了一种线路反射谐振点的测试方法、测试装置以及存储介质，该线路反射谐振点的测试方法包括：基于测试线路的长度确定与测试线路的长度对应的激励源信号；将激励源信号输入至测试线路，并从测试线路上接收反馈信号；基于反馈信号形成的TDR曲线，确定测试线路的反射谐振点。通过上述方式，避免了高次谐波在TDR近端多次反射，并叠加在TDR上干扰TDR的测试的问题，提高了TDR的测试精度，能够准确的找到测试线路中反射谐振点的位置。

技术领域

本申请涉及线路测试技术领域，特别是涉及一种线路反射谐振点的测试方法、测试装置以及存储介质。

背景技术

TDR(Time Domain Reflectometry)测试是利用传输线路的反射对线路的未知特性进行测试，并计算出线路的大部分特性的一种方法，其测试时间短，精度高，对于电路板电路设备具有重要实际使用价值。该方法利用时域信号在传输线路上反射的特性，根据接收到的回波信号的各种特性来对传输线路特性进行估计。

发明内容

本申请采用的一个技术方案是：提供一种线路反射谐振点的测试方法，该线路反射谐振点的测试方法方法包括：基于测试线路的长度确定与测试线路的长度对应的激励源信号；将激励源信号输入至测试线路，并从测试线路上接收反馈信号；基于反馈信号形成的TDR曲线，确定测试线路的反射谐振点。

本申请采用的另一个技术方案是：提供一种电子设备，该电子设备包括信号产生电路、信号发送电路、信号接收电路、处理器以及存储器；其中，信号产生电路用于产生激励源信号，信号发送电路耦接测试线路，用于输入信号，信号接收电路耦接测试线路，用于接收反射的信号；存储器用于存储计算机程序，计算机程序在被处理器执行时，用于执行如上述的测试方法。

本申请采用的另一个技术方案是：提供一种计算机存储介质，该计算机存储介质用于存储计算机程序，计算机程序在被处理器执行时，用于执行如上述的方法。

本申请提供的线路反射谐振点的测试方法包括：基于测试线路的长度确定与测试线路的长度对应的激励源信号；将激励源信号输入至测试线路，并从测试线路上接收反馈信号；基于反馈信号形成的TDR曲线，确定测试线路的反射谐振点。通过上述方式，不再使用统一的激励源信号，而是根据测试线路的长度不同而采用不同的激励源信号，避免了高次谐波在TDR近端多次反射，并叠加在TDR上干扰TDR的测试的问题，提高了TDR的测试精度，能够准确的找到测试线路中反射谐振点的位置。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：

图1是本申请提供的线路反射谐振点的测试方法第一实施例的流程示意图；

图2是激励源信号示意图；

图3是TDR曲线示意图；

图4是本申请提供的线路反射谐振点的测试方法第二实施例的流程示意图；

图5是电路板以及测试线路结构示意图；

图6是本申请提供的线路反射谐振点的测试方法第三实施例的流程示意图；

图7是本申请提供的线路反射谐振点的测试装置第一实施例的结构示意图；

图8是本申请提供的线路反射谐振点的测试装置第二实施例的结构示意图；

图9是本申请提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。

具体实施方式