[发明专利]一种线路反射谐振点的测试方法、测试装置以及存储介质

权利要求书

1.一种线路反射谐振点的测试方法，其特征在于，包括：

确定测试线路的长度；

基于所述测试线路的长度确定对应的特征频率；

利用所述特征频率确定激励源信号的上升沿时间；

将所述激励源信号输入至所述测试线路，并从所述测试线路上接收反馈信号；

基于所述反馈信号形成的TDR曲线，确定所述测试线路的反射谐振点。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，

所述确定所述测试线路的长度的步骤，包括：

确定所述测试线路在电路板所在平面的第一走线长度λ₁；

基于所述测试线路经过的过孔的高度和直径，以及所述测试线路单位长度的电阻，确定所述测试线路的第二走线长度λ₂；

基于所述第一走线长度和所述第二走线长度，确定所述测试线路的总长度。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，

所述基于所述测试线路经过的过孔的高度和直径，以及所述测试线路单位长度的电阻，确定所述测试线路的第二走线长度的步骤，包括：

确定所述测试线路经过的过孔的高度h和直径d，以及所述测试线路单位长度的电阻R；

利用以下公式计算得到过孔的等效电感L：

利用以下公式计算得到所述第二走线长度λ₂：

4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，

所述基于所述测试线路的长度确定对应的特征频率的步骤，包括：

利用以下公式计算得到所述测试线路对应的特征频率f：

其中，λ为所述测试线路的长度，c为光速。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，

所述利用所述特征频率确定激励源信号的步骤，包括：

根据需要的测试精度确定谐波次数k；

利用以下公式确定特征时间t：

其中，f为所述测试线路对应的特征频率；

基于特征时间t确定所述激励源信号的上升沿时间。

6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，

所述基于特征时间t确定所述激励源信号的上升沿时间的步骤，包括：

确定所述激励源信号从第一电压上升至第二电压所用的时间的20％-80％的时间为所述特征时间t。

7.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，

所述基于所述反馈信号形成的TDR曲线，确定所述测试线路的反射谐振点的步骤，包括：

确定所述TDR曲线中特征点对应的时间T₀；

利用以下公式计算得到所述测试线路信号的输入端点与所述反射谐振点之间的距离S：

S＝T₀×8mil/s。

8.一种线路反射谐振点的测试装置，其特征在于，包括信号产生电路、信号发送电路、信号接收电路、处理器以及存储器；

其中，所述信号产生电路用于产生激励源信号，所述信号发送电路耦接测试线路，用于输入信号，所述信号接收电路耦接所述测试线路，用于接收反射的信号；所述存储器用于存储计算机程序，所述计算机程序在被所述处理器执行时，用于执行如权利要求1-7任一项所述的测试方法。

9.一种计算机存储介质，其特征在于，用于存储计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时，用于执行如权利要求1-7任一项所述的测试方法。