[发明专利]基于模式聚类与谱校正的欠采样信号频率估计方法及装置

权利要求书

1.基于模式聚类与谱校正的欠采样信号频率估计方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

对L路欠采样信号样本序列做N点加汉宁窗的DFT得到DFT频谱，对DFT频谱进行基于比值法的频谱和相位校正，得到校正后的由频率、相位、幅值组成的参数组，并且得到由校正后参数组合而成的向量；

对于第m个频率成分的第l路独立向量，根据向量集合选出期望的峰值指标；根据谐波参数构成的峰值指标进行模式聚类，从而得到一个聚类之后的余数；

利用余数构造频率余数组，并将其带入CRT模型进行重构，得出频率估计值。

2.根据权利要求1所述的基于模式聚类与谱校正的欠采样信号频率估计方法，其特征在于，所述根据谐波参数构成的峰值指标进行模式聚类，从而得到一个聚类之后的余数的步骤包括：

1)对每个序列x_l(n)采用加窗的DFT操作，对每类DFT频谱簇进行频谱校正，以便从序列x_l(n)的加汉宁窗DFT结果X_l(k)中精确地提取谐波参数对{a_m,θ_m}；

2)利用向量作为模式聚类指标，得到LM个校正后的余数将其分类到基于CRT的频率重建的M个余数集，从而得到余数集并代入CRT重构模型进行频率估计；

3)频率恢复范围。

3.根据权利要求2所述的基于模式聚类与谱校正的欠采样信号频率估计方法，其特征在于，所述对每类DFT频谱簇进行频谱校正的步骤具体为：

计算出DFT谱峰在X_l(k_m,l)处的幅值和相邻谱线中幅值最大的一根谱线的幅值的比值v：

估计频率偏差

得到校正后的频率估计的幅度估计和相位估计

4.根据权利要求3所述的基于模式聚类与谱校正的欠采样信号频率估计方法，其特征在于，所述向量具体为：

5.基于模式聚类与谱校正的欠采样信号频率估计装置，其特征在于，所述装置包括：

将采集到的观测信号x(t)经模数转化器欠采样得到样本序列x(n)，以并行数字输入的形式进入DSP芯片；

经过DSP芯片的内部算法处理，完成信号的加窗DFT变换，频谱校正，模式聚类，利用中国余数定理恢复出频率估计结果；

输出驱动及其显示模块显示频率的估计值。