[发明专利]一种位移侦测装置及物体位移的测量方法

说明书

本发明提供一种位移侦测装置及物体位移的测量方法，位移侦测装置包括：一发光元件、一光学元件、一分光元件以及一感测元件，其中，当所述物体在所述分光元件及所述感测元件之间移动时或当所述物体在所述分光元件及所述光学元件之间移动时，所述感测元件会反应出不同的光线感测变化；其中，通过所述物体位移时所对应产生的所述感测元件的光线感测变化测量所述物体的位移，本实施例提供的位移侦测装置，实现了位移侦测装置对物体位移变化的高精度及时采集监测的目的，解决了现有技术中位移检测装置对物体位移的测量精度不高的技术问题。

技术领域

本发明涉及一种发光感测领域，特别涉及一种位移侦测装置及物体位移的测量方法。

背景技术

位置检测传感器是一种对物体位置进行检测的装置，通过对物体的位置的检测从而获得物体的状态，进而根据物体的状态执行相应的控制操作，位置检测传感器可以应用于工件的位移、尺寸、表面状态及振动、偏心、间隙、冲程等运动状态的在线检测以及空间三维位移检测和机器人测距等方面。

目前，位置检测传感器主要包括：发光元件和受光元件，受光元件具体为光电二级管(photodiode)，其中，发光元件将电转为光，光投射到受光元件，由受光元件将光转为电信号，控制单元根据电信号判断出外接物的存在或接近等状态，具体的，当发光元件和受光元件之间没有遮挡物体时，则发光元件发出的光线会全部射到受光元件上，当有一被测物体位于发光元件和受光元件之间时被测物体会挡住一部分光线，这时受光元件根据检测到的光线感测出有物体通过，此时控制单元根据受光元件的信号判断出发光元件和受光元件之间有物体通过或接近。

然而，上述位置检测传感器只能检测出物体是否通过或接近等状态，无法对物体移动过程中的位移变化进行检测。

发明内容

鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种位移侦测装置及物体位移的测量方法，实现了对物体位移变化的高精度测量目的。

为达上述目的，本发明提供一种位移侦测装置，所述位移侦测装置包括：

一发光元件，用于提供一光线；

一光学元件，设置于所述发光元件的一侧，用于将所述光线转换成一平行光束；

一分光元件，设置于所述光学元件的一侧，用于将所述平行光束划分为多个平行光线；

以及一感测元件，设置于所述分光元件的一侧；

其中，当一物体位于所述分光元件及所述感测元件之间或位于所述分光元件及所述光学元件之间时，所述物体遮蔽一部分的该些平行光线，所述物体允许另一部分的该些平行光线投射至所述感测元件，所述感测元件产生一光线感测；

其中，当所述物体在所述分光元件及所述感测元件之间移动时或当所述物体在所述分光元件及所述光学元件之间移动时，所述感测元件会反应出不同的光线感测变化；其中，通过所述物体位移时所对应产生的所述感测元件的光线感测变化测量所述物体的位移。

较佳地，所述位移侦测装置还包括一固定架。

较佳地，所述发光元件为发光二极管、镭射二极管、固态镭射、液态镭射、气态镭射、准分子镭射及光纤镭射的其中一者或至少二者以上所任意组合的群组。

较佳地，所述位移侦测装置还包括一固定架，其中所述发光元件、所述光学元件及所述分光元件设置在所述固定架的同一侧。

较佳地，还包括一固定架，其中所述感测元件设置在所述固定架的另一同侧面上。

较佳地，所述位移侦测装置还包括一固定架，其中所述发光元件、所述光学元件及所述分光元件设置在所述固定架的同一侧，所述感测元件设置在所述固定架的另一同侧面上，或者

所述发光元件、所述光学元件设置在所述固定架的同一侧，所述分光元件和所述感测元件设置在所述固定架的另一同侧面上。