[发明专利]一种位移侦测装置及物体位移的测量方法

权利要求书

1.一种位移侦测装置，其特征在于，包括：

一发光元件，用于提供一光线；

一光学元件，设置于所述发光元件的一侧，用于将所述光线转换成一平行光束；

一分光元件，设置于所述光学元件的一侧，用于将所述平行光束划分为多个平行光线；

以及一感测元件，设置于所述分光元件的一侧；

其中，当一物体位于所述分光元件及所述感测元件之间或位于所述分光元件及所述光学元件之间时，所述物体遮蔽一部分的该些平行光线，所述物体允许另一部分的该些平行光线投射至所述感测元件，所述感测元件产生一光线感测；

其中，当所述物体在所述分光元件及所述感测元件之间移动时或当所述物体在所述分光元件及所述光学元件之间移动时，所述感测元件会反应出不同的光线感测变化；其中，通过所述物体位移时所对应产生的所述感测元件的光线感测变化测量所述物体的位移。

2.根据权利要求1所述的位移侦测装置，其特征在于，所述发光元件为发光二极管、镭射二极管、固态镭射、液态镭射、气态镭射、准分子镭射及光纤镭射的其中一者或至少二者以上所任意组合的群组。

3.根据权利要求1所述的位移侦测装置，其特征在于，还包括一固定架，其中所述发光元件、所述光学元件及所述分光元件设置在所述固定架的同一侧，所述感测元件设置在所述固定架的另一同侧面上，或者

所述发光元件、所述光学元件设置在所述固定架的同一侧，所述分光元件和所述感测元件设置在所述固定架的另一同侧面上。

4.根据权利要求1所述的位移侦测装置，其特征在于，还包括一固定架，其中所述固定架为U型结构。

5.根据权利要求1所述的位移侦测装置，其特征在于，还包括一固定架，其中所述固定架具有一出光面和一收光面，且所述出光面和所述收光面之间具有一物体位移测量空间。

6.根据权利要求1所述的位移侦测装置，其特征在于，还包括：

一处理元件，用于处理所述感测元件的光线感测变化，并产生所述物体的位移数值，以及，

一显示元件，与所述处理元件电性连接，用于显示所述物体的位移数值。

7.根据权利要求1所述的位移侦测装置，其特征在于，所述光学元件为单凸光学元件或透镜，或者，所述光学元件为双凸光学元件或透镜。

8.根据权利要求1所述的位移侦测装置，其特征在于，所述分光元件包括一光栅、一分光镜、一棱镜、一分光光学膜、一光纤耦合器、一光子晶体元件的其中一者或至少二者以上所任意组合的群组。

9.根据权利要求1所述的位移侦测装置，其特征在于，所述分光元件包括多个透光口或透光窗。

10.根据权利要求1所述的位移侦测装置，其特征在于，所述感测元件包括位置感测器PSD、光耦合感测元件CCD、场效应半导体感测元件CMOS、半导体感测元件的其中一者。

11.一种物体位移的测量方法，其特征在于，包括：

提供一发光元件，用于提供一光线；

提供一光学元件，用于将所述光线转换成一平行光束；

提供一分光元件，用于将所述平行光束划分为多个平行光线；

提供一感测元件；

当一物体位于所述分光元件及所述感测元件之间或位于所述分光元件及所述光学元件之间时，所述物体遮蔽一部分的该些平行光线，所述物体允许另一部分的该些平行光线投射至所述感测元件，所述感测元件产生一光线感测；

当所述物体在所述分光元件及所述感测元件之间移动时或当所述物体在所述分光元件及所述光学元件之间移动时，所述感测元件会反应出不同的光线感测变化；以及通过所述物体位移时所对应产生的所述感测元件的光线感测变化测量所述物体的位移。