[发明专利]一种用于超声扫描显微镜的定位系统和方法在审
| 申请号: | 201810898325.4 | 申请日: | 2018-08-08 |
| 公开(公告)号: | CN108872399A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
| 发明(设计)人: | 秦襄培;王洪娇;李俊林 | 申请(专利权)人: | 武汉工程大学 |
| 主分类号: | G01N29/265 | 分类号: | G01N29/265 |
| 代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立;徐苏明 |
| 地址: | 430000 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 方向定位 水槽 待测件 超声扫描显微镜 定位系统 固定设置 处理器 测量 探头位置 板平行 电连接 前面板 侧方 获知 探头 平行 侧面 | ||
本发明涉及一种用于超声扫描显微镜的定位系统和方法,该系统包括固定设置于超声扫描显微镜的水槽前方且与所述水槽的前面板平行的X方向定位组件,以及固定设置于所述水槽侧方且与所述水槽的侧面板平行的YZ方向定位组件,所述X方向定位组件和所述YZ方向定位组件分别与处理器电连接;所述处理器,用于根据所述X方向定位组件对所述水槽内待测件的测量值获得所述待测件的X方向定位数据,并根据所述YZ方向定位组件对所述待测件的测量值分别获得所述待测件的Y方向定位数据和Z方向定位数据。本发明提供的技术方案可准确获知待测件在超声扫描显微镜水槽中的位置,从而提高探头位置调节效率并避免探头与待测件发生碰撞。
技术领域
本发明涉及超声扫描显微镜技术领域,尤其涉及一种用于超声扫描显微镜的定位系统和方法。
背景技术
在使用常规超声扫描显微镜对待测件进行扫描前,需要首先将待测件放入超声扫描显微镜探头下方的水槽内,然后通过控制软件调整超声扫描显微镜的X、Y、Z方向滑轨,使探头位于待测件上方合适位置处。但是在调整探头位置的实际操作过程中,操作人员需要来回多次观测控制软件界面上的实时数据以及探头的实际位置,并根据肉眼观测的位置信息逐步调整软件设定数据,效率较低。另外,由于实验需要,待测件通常位于水槽内水面下方,在探头接近水面或者进入水下后,由于折射与观测视角等原因,将导致操作人员可能对探头实际位置的观测出现偏差,特别是对探头与待测件之间Z方向上的距离很有可能会出现观测误差。如果继续按原有方式调整探头位置,将有可能使探头碰撞到待测件而发生刮擦或损坏。
发明内容
为了准确获知待测件在超声扫描显微镜水槽中的位置,从而提高探头位置调节效率并避免探头与待测件发生碰撞,本发明提供一种用于超声扫描显微镜的定位系统和方法。
本发明提供一种用于超声扫描显微镜的定位系统,包括固定设置于超声扫描显微镜的水槽前方且与所述水槽的前面板平行的X方向定位组件,以及固定设置于所述水槽侧方且与所述水槽的侧面板平行的YZ方向定位组件,所述X方向定位组件和所述YZ方向定位组件分别与处理器电连接。
所述处理器,用于根据所述X方向定位组件对所述水槽内待测件的测量值获得所述待测件的X方向定位数据,并根据所述YZ方向定位组件对所述待测件的测量值分别获得所述待测件的Y方向定位数据和Z方向定位数据。
本发明提供的用于超声扫描显微镜的定位系统的有益效果是:通过位于超声扫描显微镜前方的X方向定位组件确定水槽内待测件的X方向定位数据,以及通过位于超声扫描显微镜侧方的YZ方向定位组件确定待测件的Y方向定位数据和Z方向定位数据。由于超声扫描显微镜探头、水槽及水槽内的待测件可位于相同坐标系内,确定了待测件的定位数据后,在进行调整探头时,不再需要在控制软件界面和工作台之间来回观察,而是可以根据定位数据获得探头与待测件间之间的三维相对距离,在控制软件界面直接输入三维相对距离或基于此距离的安全值,使探头能够快速准确移动到可以对待测件进行扫描的安全工作位置。从而提高探头位置调节效率并避免探头与待测件发生碰撞。
在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。
进一步,所述X方向定位组件包括第一导轨、第一激光笔、第一滑块、第一滑动变阻器和第一滑片;所述第一导轨固定设置于所述水槽前方且与所述水槽的前面板平行,所述第一滑块滑动设置于所述第一导轨的滑槽内,所述第一导轨面向所述水槽的侧面设置有第一条形通孔,背向所述水槽的侧面固定设置有所述第一滑动变阻器,所述第一激光笔滑动设置于所述第一条形通孔内,所述第一激光笔的一端垂直指向所述前面板,另一端固定于所述第一滑块上,所述第一滑片的一端固定于所述第一滑块上,另一端与所述第一滑动变阻器的电阻丝抵接;所述第一滑动变阻器与所述处理器电连接。
所述处理器,用于当所述第一激光笔在X方向移动并指向所述水槽内的所述待测件时,根据所述第一滑动变阻器的变化阻值获得所述X方向定位数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉工程大学,未经武汉工程大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810898325.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种车轮探伤用托辊
- 下一篇:一种小径管焊接接头相控阵超声检测用对比试块





