[发明专利]一种用于超声扫描显微镜的定位系统和方法

权利要求书

1.一种用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，包括固定设置于超声扫描显微镜的水槽(2)前方且与所述水槽(2)的前面板平行的X方向定位组件(4)，以及固定设置于所述水槽(2)侧方且与所述水槽(2)的侧面板平行的YZ方向定位组件(5)，所述X方向定位组件(4)和所述YZ方向定位组件(5)分别与处理器电连接；

所述处理器，用于根据所述X方向定位组件(4)对所述水槽(2)内待测件(3)的测量值获得所述待测件(3)的X方向定位数据，并根据所述YZ方向定位组件(5)对所述待测件(3)的测量值分别获得所述待测件(3)的Y方向定位数据和Z方向定位数据。

2.根据权利要求1所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述X方向定位组件(4)包括第一导轨(41)、第一激光笔(42)、第一滑块(43)、第一滑动变阻器(44)和第一滑片(45)；所述第一导轨(41)固定设置于所述水槽(2)前方且与所述水槽(2)的前面板平行，所述第一滑块(43)滑动设置于所述第一导轨(41)的滑槽内，所述第一导轨(41)面向所述水槽(2)的侧面设置有第一条形通孔(411)，背向所述水槽(2)的侧面固定设置有所述第一滑动变阻器(44)，所述第一激光笔(42)滑动设置于所述第一条形通孔(411)内，所述第一激光笔(42)的一端垂直指向所述前面板，另一端固定于所述第一滑块(43)上，所述第一滑片(45)的一端固定于所述第一滑块(43)上，另一端与所述第一滑动变阻器(44)的电阻丝抵接；所述第一滑动变阻器(44)与所述处理器电连接；

所述处理器，用于当所述第一激光笔(42)在X方向移动并指向所述水槽(2)内的所述待测件(3)时，根据所述第一滑动变阻器(44)的变化阻值获得所述X方向定位数据。

3.根据权利要求2所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述第一滑动变阻器(44)的长度与所述前面板的长度相同，且所述第一滑动变阻器(44)的两端与所述前面板的横向两端对齐，所述第一导轨(41)的表面上设置有与所述第一滑动变阻器(44)长度匹配的刻度尺。

4.根据权利要求1至3任一项所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述YZ方向定位组件(5)包括两个平行且间隔设置的第二导轨(51)、两个平行且间隔设置的支撑杆(52)、第二滑动变阻器(53)、第二滑片(54)和包括指向所述水槽(2)的第二激光笔(56)的Z方向定位组件；两个所述第二导轨(51)均设置于所述水槽(2)的一侧，并与所述水槽(2)的侧面板平行，且两个所述第二导轨(51)与所述侧面板的距离相同，两个所述第二导轨(51)的两端分别通过两个所述支撑杆(52)固定连接，一个所述第二导轨(51)背向所述水槽(2)的侧面固定设置有所述第二滑动变阻器(53)，所述Z方向定位组件的两端分别滑动设置于两个所述第二导轨(51)的滑槽内，所述第二滑片(54)的一端固定于所述Z方向定位组件上，另一端与所述第二滑动变阻器(53)的电阻丝抵接；所述第二滑动变阻器(53)与所述处理器电连接。

5.根据权利要求4所述的用于超声扫描显微镜的定位系统，其特征在于，所述第二滑动变阻器(53)的长度与所述侧面板的长度相同，且所述第二滑动变阻器(53)的两端与所述侧面板的横向两端对齐，所述第二导轨(51)的表面上设置有与所述第二滑动变阻器(53)长度匹配的刻度尺。