[发明专利]一种半导体行业生产测试数据处理方法

说明书

本发明涉及高速数据采集领域，公开了一种半导体行业生产测试数据处理方法，通过该数据架构，能够将自动测试系统产生的各种数据，包括测试用例、测试过程数据和测试结果数据，将数据统一进行抽取、建模分析和存储，形成具备一定特征的数据集合。

技术领域

本发明涉及数据处理方法，尤其涉及一种应用于半导体行业生产测试数据处理方法。

背景技术

随着工业4.0概念不断的深入到制造业，越来越多的企业将生产过程的数字化改造，作为当前企业信息化智能化升级的基础，如何充分利用这些数据，发掘数据的价值，将成为企业迈向工业4.0的核心。

对于半导体行业而言，测试工序是进行半导体产品生产的核心环节，通过对进行全方面的测试，确定产品是否合格，能否进入产品交互环节，另外，半导体生产产量大和微观性的特点，因此半导体测试工序大多采用自动测试系统，这类测试系统在运行的过程中，会产生大量数据。

传统的测试数据处理方法，基于独立系统开发，对数据的利用仅仅局限于测试系统本身，通过对测试结果数据的监控，确定产品测试数据是否符合要求，数据的流动只能在单个软件系统或者单个设备当中，没有考虑数据在不同系统不同设备之间的流转，使得对工业数据的分析具有很大的局限性。

现有测试数据处理方法，一方面由于传统数据存储与处理能力的不足，造成过程数据采集的不完整，数据后期利用不佳，另一方面，即使测试数据能够完整的采集与存储，但由于测试数据的采集往往远离实际数据应用需求，造成海量数据在不同的系统之间来回流动，系统之间的集成性能较低，数据应用深度较低，没有充分发掘数据的价值。

发明内容

本发明的目的在于，提出本发明提供一种半导体行业测试数据处理方法，通过该数据架构，能够将自动测试系统产生的各种数据，包括测试用例、测试过程数据和测试结果数据，将数据统一进行抽取、建模分析和存储，形成具备一定特征的数据集合。

为解决上述问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种数据处理架构，该架构包括若干组件，包括数据接入、数据窗口、处理模型、任务控制和特征数据集；

各组件具体功能：

(1)数据接入：数据接入分为系统级数据SDK、结构化数据接入和非结构化数据接入。系统级数据SDK，提供数据开发工具部，将数据接入采集点植入自动测试系统内部，实现测试数据细粒度精确采集；结构化数据接入，提供对结构化存储系统的数据采集功能，可以实现对自动测试系统以及上下游应用软件系统的数据接入功能；非结构化数据接入，针对较为特殊的测试应用环境，提供对非结构化文件，常见的包括文件和多媒体文件的识别和采集，实现对非结构化数据的接入功能；

(2)数据窗口：实现对数据接入模块的数据统一汇集功能，通过先进先出的存储缓存机制，供下游计算模型处理模块对测试数据进行深度利用；

(3)处理模型：通过预先定义规则，将处理模型实例化为具体可以调度运行的计算任务，任务作为数据队列中的数据消费者，通过单条或者批量的数据导入方式，实现对数据深度处理，将海量数据分解为若干具有一定特征的数据集合；

(4)任务控制：根据特征数据集的特点，对任务执行的周期进行控制；

(5)特征数据集：处理模型执行的数据结果集合，特征数据所具备的特殊性，源于其他业务需求，本文就是想要提出一种具备普适性的一般方法，将从测试数据产生的源头，对数据进行预处理，形成具备一定特征的数据集合；。

区别于现有技术的情况，本发明的有益效果是：本文提出的数据处理架构，在测试数据产生的源头，考虑加入可自定义的数据处理架构，将测试数据采集的过程，变成一种特征数据采集的过程，能够大大提高原始数据的价值，降低不同系统之间数据流动的代价，提高系统之间数据通信的效率，是数据上层深度应用的有力保障。

附图说明