[发明专利]LED阵列及其制备方法在审
申请号: | 201810787271.4 | 申请日: | 2018-07-18 |
公开(公告)号: | CN109037201A | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 朱浩;范振灿;刘国旭 | 申请(专利权)人: | 易美芯光(北京)科技有限公司 |
主分类号: | H01L25/16 | 分类号: | H01L25/16;H01L33/48 |
代理公司: | 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 | 代理人: | 施秀瑾 |
地址: | 100176 北京市大兴区亦庄经济*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 衬底表面 一一对应设置 金属反射层 支撑 制备 控制通断 影响阵列 预设位置 外延层 一对一 衬底 | ||
1.一种LED阵列,其特征在于,所述LED阵列中包括:
支撑衬底;
设置于所述支撑衬底表面预设位置的多个LED结构,所述LED结构中依次包括金属反射层、P电极、外延层及N电极;
于所述支撑衬底表面与LED结构一一对应设置的MOS管,所述LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管串联连接,每个所述LED结构通过与之连接的MOS管控制通断。
2.如权利要求1所述的LED阵列,其特征在于,当所述MOS管为N沟道MOS管时,LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管的源极连接,且所述MOS管的栅极与外界控制端连接、漏极接电源正极。
3.如权利要求1所述的LED阵列,其特征在于,当所述MOS管为P沟道MOS管时,LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管的漏极连接,且所述MOS管的栅极与外界控制端连接、源极接电源正极。
4.一种LED阵列制备方法,其特征在于,所述制备方法中包括:
S10 在生长衬底上生长外延层,并在所述外延层表面蒸发或溅射P电极和金属反射层,得到外延结构;
S20 将预留位置处的外延结构去除;
S30 将生长衬底表面余下的外延结构转移至支撑衬底,并去除生长衬底;
S40 在支撑衬底上预留位置处制备MOS管;
S50 在外延结构中露出的外延层表面蒸发或溅射N电极,得到LED结构;
S60 沉积连接金属,将LED结构与MOS管串联连接,得到LED阵列。
5.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,在步骤S20中,去除的外延结构与余下的外延结构的位置一一对应。
6.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,
在步骤S40,在支撑衬底上预留位置处制备MOS管中,具体为,在支撑衬底上预留位置处制备N沟道MOS管;
在步骤S60,沉积连接金属,将LED结构与MOS管串联连接中,具体为:沉积连接金属,将LED结构中的金属反射层和/或P电极与MOS管的源极连接,将MOS管的栅极与外界控制端连接、漏极接电源正极。
7.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,在步骤S20中,包括:
在步骤S40,在支撑衬底上预留位置处制备MOS管中,具体为,在支撑衬底上预留位置处制备P沟道MOS管;
在步骤S60,沉积连接金属,将LED结构与MOS管串联连接中,具体为:沉积连接金属,将LED结构中的金属反射层和/或P电极与MOS管的漏极连接,将MOS管的栅极与外界控制端连接、源极接电源正极。
8.如权利要求4-7任意一项所述的制备方法,其特征在于,在步骤S40,在支撑衬底上预留位置处制备MOS管中,采用沉积的方法制备栅极氧化硅。
9.如权利要求4-7任意一项所述的制备方法,其特征在于,所述N电极/P电极为ITO或Al或Au。
10.如权利要求4-7任意一项所述的制备方法,其特征在于,所述金属反射层为Cr或Pt或Al或Au。
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