[发明专利]一种低功耗设备使用年限的测试方法

说明书

本发明公开了一种低功耗设备使用年限的测试方法，属于设备测试技术领域。本发明具体方法包括：步骤一，启动测试，将低功耗设备接入功耗测试仪器中；步骤二：读取低功耗设备休眠模式的静态功耗Ps、电池电压U，电流Is；步骤三：读取低功耗设备高频工作模式的功耗Pw、电流Iwi；步骤四：使低功耗设备运行在模拟真实环境中，增加典型状态被触发后占用的时间所消耗的功耗，得到单位时间t的正常模式的功耗P；步骤五：使用被测试低功耗设备电池容量Q除以单位时间下的常态功耗，计算出被测试设备现场使用情况下的使用年限T。本发明通过在实验室精确测出低功耗设备在不同运行模式下的运行功耗，进而计算出低功耗设备投入现场运行后的使用年限。

技术领域

本发明涉及设备测试领域，特别涉及一种低功耗设备使用年限的测试方法。

背景技术

随着物联网技术的发展，物联网正在影响着我们生活的方方面面，多样化的电子设备被运用，并以各种不同形式实现互联。物联网设备基本都具备低功耗特性，电池的寿命是物联网设备所面临的最大挑战，因此低功耗设备的使用年限测试变得尤为重要。

本发明针对低功耗设备测试领域，相比于非低功耗设备，低功耗设备的工作电流范围更加宽，从休眠时电流几个微安到工作时电流达到毫安级甚至安培级别，需要更加精确测量，才能获得设备的正常工作的平均功耗。

现有的功耗测试方法只测试了静态功耗和动态功耗，没有严格的区分设备的休眠功耗和各种工作状态下的功耗，这样测试结果不能准确得到设备的各种运行状态下的运行功耗，因此也无法准确测试设备的使用年限。

发明内容

本发明的目的在于解决低功耗设备功耗测试不准，不能准确计算设备使用电池后正常的工作年限的问题。提出了一种低功耗设备使用年限的测试方法，具体包括：

步骤一，启动测试，将低功耗设备接入功耗测试仪器中；

步骤二：读取低功耗设备休眠模式的静态功耗Ps、电池电压U，电流Is；

P_s＝U×I_s (1)

步骤三：读取低功耗设备高频工作模式的功耗Pw、电流Iwi；

步骤四：使低功耗设备运行在模拟真实环境中，增加典型状态被触发后占用的时间所消耗的功耗，得到单位时间t内正常模式的功耗P，所述t为单位时间内低功耗设备休眠模式时间ts和低功耗设备工作模式时间twi的和；

t＝t_s+t_w(4)

步骤五：使用被测试低功耗设备电池容量Q除以单位时间下的常态功耗，计算出被测试设备现场使用情况下的使用年限T；

可选的、高频工作模式包括外部工具与低功耗设备通讯或外部工具触发低功耗设备工作。

可选的、外部工具包括：红外工具、无线工具、脉冲工具和显示工具。

可选的、高频工作模式是连续的工作，不进入休眠状态。

可选的、单位时间是以日或月为时间单位。

可选的、休眠模式是低功耗设备未与外部通讯、未发生低功耗设备按键操作或低功耗设备根据自身的唤醒间隔进行定时唤醒。

本发明通过在实验室精确测出低功耗设备在不同运行模式下的运行功耗，进而计算出低功耗设备投入现场运行后的使用年限，可以指导和改进现场使用方案，提升低功耗设备的使用年限。

附图说明