[发明专利]一种低功耗设备使用年限的测试方法

权利要求书

1.一种低功耗设备使用年限的测试方法，其特征在于，包括：

步骤一，启动测试，将低功耗设备接入功耗测试仪器中；

步骤二：读取低功耗设备休眠模式的静态功耗P_s、电池电压U，电流I_s；

P_s＝U×I_s (1)

步骤三：读取低功耗设备高频工作模式的功耗P_w、电流I_wi；

步骤四：使低功耗设备运行在模拟真实环境中，增加典型状态被触发后占用的时间所消耗的功耗，得到单位时间t内正常模式的功耗P，所述t为单位时间内低功耗设备休眠模式时间t_s和低功耗设备工作模式时间t_wi的和；

t＝t_s+t_w (4)

步骤五：使用被测试低功耗设备电池容量Q除以单位时间下的常态功耗，计算出被测试设备现场使用情况下的使用年限T；

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述的高频工作模式包括外部工具与低功耗设备通讯或外部工具触发低功耗设备工作。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：所述的外部工具包括：红外工具、无线工具、脉冲工具和显示工具。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述的高频工作模式是连续的工作，不进入休眠状态。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述的单位时间是以日或月为时间单位。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述的休眠模式是低功耗设备未与外部通讯、未发生低功耗设备按键操作或低功耗设备根据自身的唤醒间隔进行定时唤醒。