[发明专利]测试方法及测试系统

权利要求书

1.一种测试方法，用于测试结构光设备的参数，所述结构光设备包括深度相机，其特征在于，所述测试方法包括：

驱动所述结构光设备运动至相对于标定板的第一测试位置；

控制所述深度相机获取所述标定板的深度图像；及

依据所述深度图像判断所述结构光设备的深度精度是否测试通过，

其中，所述深度精度包括相对精度，所述依据所述深度图像判断所述结构光设备的深度精度是否测试通过，包括：

计算所述深度图像的第二预定区域内所有有效像素的深度值以最小二乘法拟合的拟合值；

计算所述第二预定区域内所有有效像素的深度值相对于所述拟合值的第一标准方差；

判断所述第一标准方差是否在第二范围内；及

若是，则确定所述结构光设备的相对精度测试通过。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：依据所述深度图像判断所述结构光设备的深度图空洞是否测试通过。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述深度相机包括红外摄像头，所述结构光设备还包括可见光摄像头，所述测试方法还包括：

控制所述红外摄像头获取所述标定板上的多个测试特征的红外图像；

控制所述可见光摄像头获取多个所述测试特征的可见光图像；及

依据所述红外图像及所述可见光图像，判断所述结构光设备的对齐精度是否测试通过。

4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述深度相机包括激光投射器、红外摄像头及微处理器，所述控制所述深度相机获取所述标定板的深度图像，包括：

控制所述激光投射器向所述标定板投射激光；

控制所述红外摄像头获取由所述标定板调制后的激光图案；及

控制所述微处理器根据所述激光图案获取所述深度图像。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述深度精度包括绝对精度，所述依据所述深度图像判断所述结构光设备的深度精度是否测试通过，还包括：

获取所述深度图像的第一预定区域内所有像素的深度值的平均值；

判断所述平均值与距离值的偏差是否在第一范围内，所述距离值为所述结构光设备在所述第一测试位置时与所述标定板的距离；及

若是，则确定所述结构光设备的绝对精度测试通过。

6.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述依据所述深度图像判断所述结构光设备的深度图空洞是否测试通过，包括：

检测所述深度图像的第三预定区域内所有像素中深度值不为零的像素数量；

判断所述像素数量是否大于或等于预定阈值；及

若是，则确定所述结构光设备的深度图空洞测试通过。

7.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述依据所述红外图像及所述可见光图像，判断所述结构光设备的对齐精度是否测试通过，包括：

获取所述红外图像的第四预定区域内多个所述测试特征的多个第一位置，每个所述测试特征对应一个所述第一位置；

依据所述红外摄像头、所述可见光摄像头的内参和外参，处理多个所述第一位置以得到多个所述测试特征在所述可见光图像上的多个第二位置，每个所述测试特征对应一个所述第二位置；

获取所述可见光图像上多个所述测试特征的第三位置与对应的所述第二位置的多个图上距离；

判断多个所述图上距离的第二标准方差是否小于或等于预设阈值；及

若是，则确定所述结构光设备的对齐精度测试通过。

8.根据权利要求1至7任意一项 所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

驱动所述结构光设备运动至相对于所述标定板的第二测试位置；及

判断所述结构光设备的参数在所述第二测试位置处是否测试通过。