[发明专利]屏幕缺陷检测系统、屏幕检测线以及屏幕缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201810713040.9 申请日: 2018-06-29
公开(公告)号: CN110657946B 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 李水艳 申请(专利权)人: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01N21/95
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 屏幕 缺陷 检测 系统 以及 方法
【说明书】:

发明实施例公开了一种屏幕缺陷检测系统、屏幕检测线以及屏幕缺陷检测方法。该屏幕缺陷检测系统包括电检模块和治具模块;所述电检模块用于对待检屏幕进行图像采集;所述治具模块上设置有待检屏幕设置区,所述待检屏幕设置区用于放置待检屏幕;所述电检模块位于所述待检屏幕背离所述治具模块的一侧,且所述电检模块可围绕第一直线旋转;所述治具模块可沿第二直线运动;其中,所述第一直线与所述待检屏幕的显示面平行,所述第二直线与所述待检屏幕的显示面垂直,且所述第二直线穿过所述待检屏幕的几何中心。本发明实施例提供的屏幕缺陷检测系统可以实现机械自动化检测,提高了屏幕缺陷检测的效率和检出率。

技术领域

本发明实施例涉及屏幕缺陷检测技术,尤其涉及一种屏幕缺陷检测系统、屏幕检测线以及屏幕缺陷检测方法。

背景技术

液晶显示器(LCD)和有机发光显示器(OLED)是显示设备中的主流器件,具有优良的显色特征和稳定的显示性能,广泛应用于日常生活和工业生产。LCD由偏光片、滤光片、液晶、驱动电路和背光板组成,LCD器件加工制作过程中会经过阵列(Array)、成盒(Cell)和模块(Module)工艺阶段中的几十道工序。类似的,OLED主动发光,主要由阴极、阳极、有机物层、导电层和基底组成,OLED器件经过基板玻璃清洗及光刻、镀有机层、镀电极层及保护层、模块组装等多道工序制备而成。两种显示屏的加工制造过程中由于原材料特性和生产工艺的影响,可能产生各种缺陷,如LCD屏幕液晶层或OLED有机发光层与框架吻合不紧密导致的漏光,各种制造过程产生的mura(显示不均),屏幕基板或滤光片存在的气泡划伤和脏污,像素无法正常工作产生的坏点(亮点、暗点),同时还可能存在LCD屏幕液晶偏转问题导致的色偏等缺陷。

当前显示屏幕生产厂商都是通过纯人工的方式完成对显示面板缺陷的检测,工人需要具备一定缺陷识别能力,因此需要对其严格培训,增加生产成本。同时,缺陷种类繁多,人工检测效率低,长时间工作较容易出现疲劳而误判或漏判,不稳定的人为因素对屏幕缺陷检测结果影响较大。

发明内容

本发明提供一种屏幕缺陷检测系统、屏幕检测线以及屏幕缺陷检测方法,以实现机械自动化检测,提高了屏幕缺陷检测的效率和检出率。

第一方面,本发明实施例提供了一种屏幕缺陷检测系统,该屏幕缺陷检测系统包括电检模块和治具模块;

所述电检模块用于对待检屏幕进行图像采集;

所述治具模块上设置有待检屏幕设置区,所述待检屏幕设置区用于放置待检屏幕;

所述电检模块位于所述待检屏幕背离所述治具模块的一侧,且所述电检模块可围绕第一直线旋转;

所述治具模块可沿第二直线运动;

其中,所述第一直线与所述待检屏幕的显示面平行,所述第二直线与所述待检屏幕的显示面垂直,且所述第二直线穿过所述待检屏幕的几何中心。

第二方面,本发明实施例还提供了一种屏幕检测线,该屏幕检测线包括多个工位,本发明实施例提供的任意一种所述的屏幕缺陷检测系统集成于至少一个所述工位。

第三方面,本发明实施例还提供了一种屏幕缺陷检测方法,所述屏幕缺陷检测方法适用于本发明实施例提供的任意一种所述的屏幕缺陷检测系统;

所述屏幕缺陷检测方法包括;

第一次调整所述待检屏幕和所述电检模块的相对位置,使得所述待检屏幕位于所述电检模块的焦面上;

利用所述电检模块对所述待检屏幕进行第一次图像采集,并得到第一次图像采集结果;

点亮所述待检屏幕,并输入检测图案,利用所述电检模块对所述待检屏幕进行第二次图像采集,并得到第二次图像采集结果;

第二次调整所述待检屏幕和所述电检模块的相对位置,使得所述待检屏幕位于所述电检模块的离焦位置;

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