[发明专利]一种mini LED和micro LED的测试方法

权利要求书

1.一种mini LED和micro LED的测试方法，其特征在于，所述测试方法中包括：

S1 配备供测试的芯片测试台，所述芯片测试台表面包括至少一对电极条，每对电极条中包括平行设置的正电极条和负电极条；

S2 将待测试mini LED或micro LED排列于所述芯片测试台上得到测试芯片阵列，其中，一颗mini LED或micro LED置于一对电极条上，且芯片正极与正电极条接触、芯片负极与正电极条接触；

S3 对芯片测试台表面的电极条进行通电，实现测试芯片阵列的批量测试。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在步骤S3之后，还包括：

S4 使用拍照设备记录测试芯片阵列的发光形貌图片；

S5 根据记录发光形貌图片进行分析，并记录发光异常芯片的位置信息。

3.如权利要求1或2所述的测试方法，其特征在于，在芯片测试台表面，每对电极条中正电极条和负电极条之间的距离与mini LED或micro LED中芯片正极和芯片负极之间的距离匹配。

4.如权利要求1或2所述的测试方法，其特征在于，在芯片测试台表面，每对电极条上包括用于放置mini LED或micro LED的标记信息，mini LED或micro LED根据该标记信息排列在电极条上。