[发明专利]抛光装置和抛光方法在审
申请号: | 201810653280.4 | 申请日: | 2018-06-22 |
公开(公告)号: | CN108857588A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 张晓强;孙元成;杜秀蓉;宋学富;王慧;钟利强;花宁 | 申请(专利权)人: | 中国建筑材料科学研究总院有限公司 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00;B24B49/12;B24B55/00;B24B41/02 |
代理公司: | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 王伟锋;刘铁生 |
地址: | 100024*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 抛光装置 抛光 第二腔体 第一腔体 体内 隔离板 抛光技术领域 加工效率 检测设备 抛光设备 形貌特征 舱体 分隔 连通 隔离 检测 | ||
1.一种抛光装置,其特征在于,包括:
舱体,所述舱体内设有由隔离板分隔而成的第一腔体和第二腔体,所述隔离板用于使所述第一腔体和所述第二腔体之间连通或隔离,所述第一腔体内设有检测待抛元件形貌特征的检测设备,所述第二腔体内设有对待抛元件抛光的抛光设备。
2.根据权利要求1所述的抛光装置,其特征在于,还包括:
支撑平台,所述支撑平台活动连接于所述舱体内,使所述支撑平台能够活动至所述第一腔体或所述第二腔体内,所述支撑平台用于支撑待抛元件。
3.根据权利要求2所述的抛光装置,其特征在于,
所述舱体内设有第一滑轨,所述第一滑轨的两端分别延展至所述第一腔体和所述第二腔体内,所述支撑平台滑动连接于所述第一滑轨。
4.根据权利要求3所述的抛光装置,其特征在于,
所述支撑平台包括支撑部和转动平台,所述支撑部的一端滑动连接于所述第一滑轨,另一端连接于所述转动平台,所述转动平台用于支撑待抛元件。
5.根据权利要求4所述抛光装置,其特征在于,
所述支撑部包括第一基座、第二基座和升降器,所述第一基座滑动连接于所述第一滑轨,所述第一基座上设有第二滑轨,所述第二基座滑动连接于所述第二滑轨,所述第二基座通过所述升降器连接于所述转动平台。
6.根据权利要求1所述的抛光装置,其特征在于,
所述抛光设备包括等离子体炬和等离子发生装置,所述等离子体炬连接于所述等离子发生装置,所述等离子体炬的输出端口朝向待抛元件。
7.根据权利要求1所述的抛光装置,其特征在于,
所述第一腔体内设有第一摄像装置,所述第二腔体内设有第二摄像装置。
8.根据权利要求1所述的抛光装置,其特征在于,
所述第二腔体连接有排气管道,所述排气管道用于将所述第二腔体内的气体排出。
9.根据权利要求8所述的抛光装置,其特征在于,
所述排气管道连接于废气处理装置。
10.根据权利要求1所述的抛光装置,其特征在于,还包括:
处理系统,所述处理系统连接于所述检测设备和所述抛光设备,所述处理系统用于获取所述检测设备的检测参数,并根据所述检测参数控制所述抛光设备对待抛元件进行抛光。
11.一种抛光方法,用于如权利要求1至10中任一项所述的抛光装置,其特征在于,包括:
检测待抛元件,获取第一检测参数;
根据所述第一检测参数,对所述待抛元件进行抛光加工;
待所述待抛元件抛光加工后,再次检测所述待抛元件,获取第二检测参数;
判断所述第二检测参数是否在预设参数范围,若所述时间检测参数不在所述预设参数范围内,则根据所述第二检测参数,对所述待抛元件进行再次抛光加工。
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