[发明专利]一种显示基板及检测曝光异常的方法

权利要求书

1.一种显示基板：包括：矩阵排列的多个图案化曝光区以及位于在图案化曝光区外的第一间隔区和第二间隔区，其特征在于：还包括位于第一间隔区内的光致变色薄膜带；所述第一间隔区沿第一方向排列且位于相邻的图案化曝光区之间，所述第二间隔区沿第二方向排列且位于相邻的图案化曝光区之间，第一方向和第二方向相互垂直。

2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于：所述光致变色薄膜带包括无机紫外光致变色材料。

3.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于：所述无机紫外光致变色材料为过渡金属氧化物或稀土配合物。

4.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于：所述光致变色薄膜带包括有机紫外光致变色材料。

5.根据权利要求4所述的显示基板，其特征在于：所述有机紫外光致变色材料为螺吡喃类材料、俘精酸酐类材料或丙烯酸酯类材料。

6.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于：所述光致变色薄膜带长度不小于所有图案化曝光区沿第一方向排列的长度，所述光致变色薄膜带的宽度不小于显示面板的一个像素区域的宽度。

7.一种利用权利要求1-6任一项所述显示基板实现检测曝光异常的方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤S1：在显示基板的第一间隔区内涂布光致变色材料形成光致变色薄膜带；

步骤S2：沿第一曝光方向对显示基板的一半像素区域进行第一次曝光处理，光致变色薄膜带变为等间距的无色或有色间隔条纹；

步骤S3：对曝光后的显示基板进行第一次抽检；

步骤S41：若步骤S3中第一次抽检出现异常，则进行停机调试，查找异常原因并进行相关异常处理；

步骤S42：若步骤S3中的第一次抽检未出现异常，则对光致变色薄膜带进行复原处理；

步骤S5：将基板旋转180°，沿与第一曝光方向相反的方向对显示基板的另一半像素区域进行第二次曝光处理；

步骤S6：对曝光后的显示基板进行第二次抽检；

步骤S71：若步骤S6中第二次抽检出现异常，则进行停机调试，查找异常原因并进行相关异常处理；

步骤S72：若步骤S6中的第二次抽检未出现异常，将基板进行排出，进入下一制程。

8.根据权利要求7所述的检测曝光异常的方法，其特征在于：所述步骤S3中的第一次抽检频率与步骤S6第二次抽检频率相同，即第一次抽检和第二次抽检的显示基板相同。

9.根据权利要求7所述的检测曝光异常的方法，其特征在于：所述步骤S3第一次抽检和步骤S6第二次抽检进一步的包括：使用CCD扫描光致变色薄膜带，通过图像识别技术检测光致变色薄膜带的变色条纹是否等距以及是否有异常变色条纹。

10.根据权利要求7所述的检测曝光异常的方法，其特征在于：所述步骤S42光致变色带复原处理方式包括加热处理或另一波长光照处理。