[发明专利]一种JTE内嵌多沟槽复合终端结构功率器件及制作方法在审
| 申请号: | 201810613402.7 | 申请日: | 2018-06-14 |
| 公开(公告)号: | CN111725291A | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
| 发明(设计)人: | 袁俊;徐妙玲;黄兴;倪炜江;卢小东 | 申请(专利权)人: | 北京世纪金光半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06 |
| 代理公司: | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人: | 张永革 |
| 地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 jte 内嵌多 沟槽 复合 终端 结构 功率 器件 制作方法 | ||
1.一种JTE内嵌多沟槽复合终端结构功率器件,自上而下依次层叠设置有P型区、外延层、衬底层和阴极,阳极设置在P型区;在外延层的上方设置有P+区和底部平整的JTE结构,所述P+区和所述JTE结构的一端连接;其特征在于,所述JTE结构的顶部设置有若干个沟槽环,所述沟槽环中填有High-K介质。
2.如权利要求1所述的功率器件,其特征在于,所述JTE结构的底部设置有雪崩耐量增强结构。
3.如权利要求1所述的功率器件,其特征在于,所述高介电常数介质为SiO2、SiNx、Al2O3、AlN、HfO2、MgO、Sc2O3、Ga2O3、AlHFOx、HFSiON材料中的一种或任意几种的组合。
4.如权利要求1所述的功率器件,其特征在于,所述功率器件包括但不限于PIN,SBD,MOSFET,IGBT或GTO。
5.如权利要求1所述的功率器件,其特征在于,所述功率器件的制作晶圆材料包括但不限于硅,碳化硅,砷化镓,氮化铝,氮化镓,氧化镓或金刚石。
6.如权利要求1所述的功率器件的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)在N型(或P型)外延耐压层的结终端区域的上层是与外延层相反掺杂的P型层结终端延伸JTE(外延是P型时则为N型);
2)利用光刻版做光刻,直接在光刻的开口处继续往下刻蚀出若干个沟槽环;最好是圆环;
3)在沟槽环中填入了SiO2或其他High-K介质。
7.如权利要求6所述的功率器件的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:
4)在终端P型JTE结构的底下注入与外延层相同掺杂类型但浓度比外延层稍高的离子;形成N型抗浪涌电流增强层。
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