[发明专利]一种温控治具和温度测试方法

说明书

本发明涉及光学系统热稳定性技术领域，公开了一种用于温度对光学系统形变影响测试的温控治具和方法，温控治具包括温控调节器和加热器，所述加热器包括保护罩、加热体以及隔热底座，所述保护罩设于所述加热体外，所述保护罩具有入口端口，所述加热体具有中空部，所述入口端口与所述中空部相连通，所述加热体与所述温控调节器电连接；方法中利用上述温控治具和光学影像测量仪形成了较为完善的帮助定量获取温度变化对光学系统形变影响的较为符合实际的参数；本发明结构简单，尺寸小巧，制造和应用成本低，能够帮助生产、研发人员在生产或研发设计过程测试温度变化对光学系统形变影响，为设计初期提供设计选型数据支持。

技术领域

本发明涉及光学系统热稳定性技术领域，尤其涉及一种温控治具和温度测试方法。

背景技术

光学系统的各个元件受结构及周围环境的温度场影响对像质的破坏作用早已是人们的共识，多年来，各国技术人员一直致力于发展和提高结构设计和热设计的水平以保证光学系统的性能。

航拍技术以及全景技术的发展，促使光学系统需要追求更高质量的精准度和清晰度，其中定焦模组由于对焦速度快，成像质量稳定的优点被广泛应用于航拍相机以及全景相机中，但此类模组的解像率随温度变化极为敏感。

研究表明，温度对解像率影响主要表现为环境温度对镜头模组各部件之间的相对位置以及各部件结构自身形状的影响。

目前，解像率问题把控主要通过镜头模组在出厂前对镜头模组在经过耐受实验前后进行解像力进行测试，测试结果满足解像力出厂要求的镜头模组才能够出厂的方式，其中，耐受实验是指将镜头模组置于严苛的环境(例如高温环境或高温高湿环境)一定时间，以测试镜头模组的耐受能力。

如公开号为CN105657416A专利文献公开的“一种摄像模组解像力检测方法及检测系统”，首先将摄像模组设置于温湿度控制箱中；然后通过设置增距镜，并调节增距镜、摄像模组及温湿度控制箱之间的距离，满足测试要求；最后控制所述摄像模组开始工作，利用所述温湿度控制箱控制其内部的环境参数并通过所述摄像模组的处理芯片获取在不同环境参数下所述摄像模组拍摄的靶纸图像，并对所述靶纸图像进行分析获取所述摄像模组在不同环境参数下的解像力参数。但是实际运用过程中，经过上述解像力检测后出厂的镜头模组还是会出现生产环节测试结果优良、品质正常，但客户实际应用效果差，或者刚开启与工作一段时间后的品质差异大的情况，此外上述测试系统，仅能对成品摄像模组进行测试，并不能帮助生产研发人员在生产和设计研发过程中把控和了解镜头模组受温度影响的具体状况。

因此，需要有进一步细化的测试系统帮助生产研发人员在生产和设计研发过程中辅助生成和设计，从源头上、低成本的把控镜头模组品质和不同材质结构零部件的组合，以便将温度影响降至最低。

发明内容

本发明要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，提供一种能够模拟环境温度变化，帮助生产、研发人员在生产或研发设计过程测试温度变化对光学系统形变影响，为设计初期提供设计选型数据支持的用于温度对光学系统形变影响测试的温控治具和方法。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案为：

一种用于温度对光学系统形变影响测试的温控治具，包括温控调节器和加热器，所述加热器包括保护罩、加热体以及隔热底座，所述保护罩设于所述加热体外，所述保护罩具有入口端口，所述加热体具有中空部，所述入口端口与所述中空部相连通，所述加热体与所述温控调节器电连接。