[发明专利]一种位置解析度测量方法及装置

说明书

本发明公开了一种位置解析度测量方法及装置，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括多个感应单元；所述方法包括：确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点；分别获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个感应单元的自感电容值；根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度。通过该技术方案，可以测量触控面板的位置解析度，以便于根据触控面板的位置解析度进行对应的触控操作，减少无效操作。

技术领域

本发明涉及悬浮触控技术领域，特别涉及一种位置解析度测量方法及装置。

背景技术

手势感应，也称，免触碰科技，主要是通过电子设备上的各种传感器感应处理用户的操作手势，来完成一系列的操控。实现手势感应的一项重要技术就是悬浮触控技术。

悬浮触控技术是通过电容式触控装置来检测用户在触控面板上执行触控操作时的触控位置。电容式触控装置通过其触控面板上各个感应单元的电容变化进行工作。当有触控物(如手指)靠近触控面板时，触控物所在位置对应的感应单元的电容会发生变化，故通过检测各个感应单元的电容变化，即可确定触控物所在位置，即上述触控位置。如果触控物的实际位移发生在同一个感应单元内，则相对于位移前，触控面板内各感应单元的电容不会发生变化或者变化很小，导致该位置变化难以被检测出来，也就无法响应相应的触控操作，使得触控操作无效。

因此，为减少无效触控操作，有必要预先测量触控面板可以检测出的最小位移，即该触控面板的位置解析度。

发明内容

本发明提供一种位置解析度测量方法及装置，用以实现测量触控面板的位置解析度，以便于根据触控面板的位置解析度进行对应的触控操作。

本发明第一方面提供一种位置解析度测量方法，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括多个感应单元；

所述方法包括：

确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点；

分别获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度。

在该实施例中，可以在触控面板的感应区域内确定间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，继而获取每个预设测量点被触控物触按时触控面板上各个感应单元的自感电容值，根据预设测量点之间的电容变化量确定出触控面板的位置解析度，这样，预先测量触控面板的位置解析度，便于后续根据触控面板的位置解析度进行触控操作。

可选的，所述根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度，包括：

获取所有电容变化量大于预设阈值的两个预设测量点之间的间距值；

根据所有所述间距值中的最小间距值，确定所述触控面板的位置解析度。

在该实施例中，触控面板的位置解析度即触控面板可以检测到的最小位移，因此，根据所有电容变化量大于预设阈值的两个预设触控点之间的最小间距值，就可以确定触控面板的位置解析度。

可选的，所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板，每个电极板为一个感应单元，或者，满足目标尺寸参数的多个相邻电极板互相短路形成一个感应单元。

可选的，所述方法还包括：

获取多个目标尺寸参数；