[发明专利]一种位置解析度测量方法及装置

权利要求书

1.一种位置解析度测量方法，其特征在于，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括多个感应单元；

所述方法包括：

确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点；

分别获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度，所述触控面板的位置解析度即所述触控面板可检测到的最小位移。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度，包括：

获取所有电容变化量大于预设阈值的两个预设测量点之间的间距值；

根据所有所述间距值中的最小间距值，确定所述触控面板的位置解析度。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板，每个电极板为一个感应单元，或者，满足目标尺寸参数的多个相邻电极板互相短路形成一个感应单元。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取多个目标尺寸参数；

所述确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，包括：

分别针对每个目标尺寸参数确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应目标尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

所述确定所述触控面板的位置解析度，包括：

确定各个目标尺寸参数对应的所述触控面板的第一位置解析度。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将各个目标尺寸参数和与其对应的所述触控面板的第一位置解析度进行关联存储。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取多个预设悬浮触控高度；

所述确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，包括：

分别针对每个预设悬浮触控高度确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

所述确定所述触控面板的位置解析度，包括：

确定各个所述预设悬浮触控高度对应的所述触控面板的第二位置解析度。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将各个所述预设悬浮触控高度和与其对应的所述触控面板的第二位置解析度进行关联存储。

8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取多个预设悬浮触控高度和多个目标尺寸参数；

所述确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点，包括：

分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数，确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度及目标尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

所述确定所述触控面板的位置解析度，包括：

确定各个所述预设悬浮触控高度和目标尺寸参数对应的所述触控面板的第三位置解析度。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述预设悬浮触控高度、所述目标尺寸参数和对应的所述触控面板的第三位置解析度进行关联存储。

10.一种位置解析度测量装置，其特征在于，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括多个感应单元；

所述装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

确定所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，作为预设测量点；

分别获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定所述触控面板的位置解析度，所述触控面板的位置解析度即所述触控面板可检测到的最小位移。