[发明专利]一种低损耗检测光提取方法以及取光机构在审
申请号: | 201810534148.1 | 申请日: | 2018-05-29 |
公开(公告)号: | CN108710181A | 公开(公告)日: | 2018-10-26 |
发明(设计)人: | 王昌涔 | 申请(专利权)人: | 南京光金通信科技有限公司 |
主分类号: | G02B6/42 | 分类号: | G02B6/42;H04B10/077;H04B10/25 |
代理公司: | 南京禹为知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32272 | 代理人: | 王晓东 |
地址: | 211100 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测光 光部件 光接口 低损耗 光机构 端头 光纤 需求选择性 光纤结构 传输 损耗率 波长 外端 正对 过滤 阻挡 通讯 传播 保证 | ||
本发明公开了一种低损耗检测光提取方法以及取光机构,包括在彼此正对的两个光接口端头之间设置取光部件,所述取光部件的两端分别与所述光接口的端头对接,所述取光部件与所述光接口的内部均设置有光纤,且所述光纤的外端互相对接;在所述取光部件的两端均设置有选择膜,所述选择膜能够对特定波长的检测光进行过滤,并对传输至此的所述检测光形成一定阻挡。本发明在不需要破坏内部光纤结构、路径的情况下,能够根据需求选择性提取出检测光,并根据选择膜的作用进行合理提取,使得后续的检测光还有传播的空间,具有利用的可持续性,同时保证了通讯光的传输质量和低损耗率。
技术领域
本发明涉及通信技术领域,特别是一种低损耗检测光提取方法以及取光机构。
背景技术
近年来,在通信领域,可进行高速、大容量传输的光纤成为传输线路主流,并在进一步的发展。随之而来的,特别是在数据中心或电信机房等的光通信相关设备中频繁的进行光传输路径的变更或废弃、增加等施工工作,目前的管理方式是通过在跳线上打上纸质标签,管理本端口的光纤通信方向地址和传输内容,但因为大量的变更或拆建业务需要重新打纸质标签而造成的工作量剧增,而实际操作人员的失误,或者不尽责而造成纸质标签内容和实际光传输内容相去甚远,错误百出,对后来施工者的施工造成了极大的困扰,同时也极大的降低了工作效率,增加的运维成本。
在这种光通信结构中传输的通信光为不可见光,且标签内容错误与否对施工人员来说无法判断,从而施工过程增加了很多危险因素,给施工人员加大了施工难度,给运营商增加了施工管理增加了成本。于是,为了提高光通信施工的效率减少不必要的失误,研究了很多用于确认光传输线路中如何提取检测光波的方法。目前已经存在的一些检测光提取技术,都是以破坏或者改变光纤的结构及其传输路径的代价来实现检测光的提取的,即通过强行截断光纤及其外包的插芯来制造通信光的泄露出口,以取得所泄露的通讯光作为检测光,但是由于每条光纤传输路径中,光发射机发射的通讯光强是固定的,且光纤传输路径中具有多个活动联接点,光纤活接头较多,若以这种截断光纤的方式或直接在活动连接器处来提取检测光不但大大折损了通讯光的通讯信号强度,而且还可能让原本能正常通信的光链路出现故障:光猫因为达不到工作光功率而退服,终端用户的光端机因为链路中多个活动连接器且人为扩大节点光衰而收不到通信光。另外一方面取光机构本身开模及其生产成本较高,从而无法实现大面积的铺装,不能实现光纤线路自动化管控。
发明内容
本部分的目的在于概述本发明的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和发明名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和发明名称的目的模糊,而这种简化或省略不能用于限制本发明的范围。
鉴于上述和/或现有的取光机构中存在的问题,提出了本发明。
因此,本发明其中的一个目的是提供一种低损耗检测光提取方法,其能够保证光纤传输路径低损耗的前提下,提取检测光。
为解决上述技术问题,本发明提供如下技术方案:一种低损耗检测光提取方法,其包括,在彼此正对的两个光接口端头之间设置取光部件,所述取光部件的两端分别与所述光接口的端头对接,所述取光部件与所述光接口的内部均设置有光纤,且所述光纤的外端互相对接;在所述取光部件的两端均设置有选择膜,所述选择膜能够对特定波长的检测光进行过滤,并对传输至此的所述检测光形成部分阻挡;通过发射机向其中任意一个光接口发送波长不同于通讯光的检测光,所述通讯光和检测光同时向所述取光部件的方向传输;所述通讯光能够从一端的光接口的光纤中穿过所述取光部件内的光纤,进入另一端的光接口内,而所述检测光被所述选择膜阻挡,从光接口端头与所述取光部件端头之间所形成的不完全耦合的缝隙中传导出去,被检测部件所接收。
作为本发明所述低损耗检测光提取方法的一种优选方案,其中:所述取光部件的内部的中心位置具有轴向的预制通道,所述光纤穿过并埋设于所述预制通道内,并对所述取光部件的两端头部进行研磨。
作为本发明所述低损耗检测光提取方法的一种优选方案,其中:所述取光部件长度在2~3mm之间。
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