[发明专利]一种低损耗检测光提取方法以及取光机构

权利要求书

1.一种低损耗检测光提取方法，其特征在于：包括，

在彼此正对的两个光接口端头之间设置取光部件(101)，所述取光部件(101)的两端分别与所述光接口的端头对接，所述取光部件(101)与所述光接口的内部均设置有光纤，且所述光纤的外端互相对接；

在所述取光部件(101)的两端均设置有选择膜(103)，所述选择膜(103)能够对特定波长的检测光进行过滤，并对传输至此的所述检测光形成部分阻挡；

通过发射机向其中任意一个光接口发送波长不同于通讯光的检测光，所述通讯光和检测光同时向所述取光部件(101)的方向传输；

所述通讯光能够从一端的光接口的光纤中穿过所述取光部件(101)内的光纤，进入另一端的光接口内，而所述检测光被所述选择膜(103)阻挡，从光接口端头与所述取光部件(101)端头之间所形成的不完全耦合的缝隙中传导出去，被检测部件所接收。

2.如权利要求1所述的低损耗检测光提取方法，其特征在于：所述取光部件(101)的内部的中心位置具有轴向的预制通道(101b)，所述光纤穿过并埋设于所述预制通道(101b)内，并对所述取光部件(101)的两端头部进行研磨。

3.如权利要求1或2所述的低损耗检测光提取方法，其特征在于：所述取光部件(101)长度在2～3mm之间。

4.如权利要求1或2所述的低损耗检测光提取方法，其特征在于：所述取光部件(101)与所述光接口的对接通过固定部件(102)进行固定，所述固定部件(102)套设于所述取光部件(101)与所述光接口的对接处。

5.如权利要求4所述的低损耗检测光提取方法，其特征在于：所述固定部件(102)沿其纵向具有容许缝口(102a)，所述检测部件位于容许缝口(102a)的正上方，并接收来自所述光接口端头与所述取光部件(101)端头之间所形成的不完全耦合的缝隙中所传导出来的检测光。

6.一种取光机构(100)，其特征在于：包括所述取光部件(101)，以及套设于所述取光部件(101)外围的所述固定部件(102)，所述取光部件(101)包括外围的插芯体(101a)以及贯穿过所述插芯体(101a)的中心位置的轴向预制通道(101b)，所述光纤穿过并埋设于所述预制通道(101b)内；

所述取光部件(101)的两端均设置有选择膜(103)，所述选择膜(103)能够对特定波长的检测光进行过滤，并对传输至此的所述检测光形成传输阻挡。

7.如权利要求6所述的取光机构(100)，其特征在于：所述取光部件(101)长度在2～3mm之间。

8.如权利要求6或7所述的取光机构(100)，其特征在于：所述固定部件(102)沿其纵向具有容许缝口(102a)，所述检测部件位于容许缝口(102a)的正上方。

9.如权利要求6或7所述的取光机构(100)，其特征在于：所述插芯体(101a)的中间位置处设置有溢出口(101a-1)，所述溢出口(101a-1)自所述取光部件(101)的外表面向内凹陷，且保持所述取光部件(101)内部的光纤不暴露出来。

10.如权利要求9所述的取光机构(100)，其特征在于：所述取光部件(101)上设置有V型槽(101a-2)，且所述V型槽(101a-2)的两侧坡面上设置有选择膜(103)。