[发明专利]半导体芯片耐高温封装测试装置在审
申请号: | 201810512216.4 | 申请日: | 2018-05-25 |
公开(公告)号: | CN108732485A | 公开(公告)日: | 2018-11-02 |
发明(设计)人: | 吴明涛 | 申请(专利权)人: | 苏州易锝玛精密机械有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 上端 半导体芯片 活塞 封装测试 加热模块 气缸上盖 安装块 连接板 耐高温 隔热 膜片 气缸 动力装置 气缸下盖 定位精度高 摄氏度高温 温度传感器 测试环境 固定底板 机械作业 技术垄断 进气装置 温控开关 加热棒 侧板 温控 浮动 测试 运转 保证 成功 | ||
1.半导体芯片耐高温封装测试装置,其特征在于,包括:固定底板、侧板、动力装置、进气装置,所述固定底板上的分别连接有侧板、进气装置和动力装置相连接。
2.根据权利要求1所述半导体芯片耐高温封装测试装置,其特征在于,所述动力装置设有4组。
3.根据权利要求1、2所述半导体芯片耐高温封装测试装置,其特征在于,所述动力装置包括:气缸下盖、气缸膜片、活塞、气缸上盖、连接板、隔热安装块、加热模块,所述气缸下盖的上端设有气缸膜片,所述气缸膜片的上端设有活塞,所述活塞上设有气缸上盖,所述气缸上盖的上端设有连接板,所述连接板的上端设有隔热安装块,所述隔热安装块的上端设有加热模块。
4.根据权利要求3所述半导体芯片耐高温封装测试装置,其特征在于,所述加热模块上设有温控开关、温度传感器和加热棒。
5.根据权利要求3所述半导体芯片耐高温封装测试装置,其特征在于,所述加热模块为铝合金材料。
6.根据权利要求3所述半导体芯片耐高温封装测试装置,其特征在于,所述气缸膜片为橡胶材质。
7.根据权利要求3所述半导体芯片耐高温封装测试装置,其特征在于,所述隔热安装块为绝热性材料。
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