[发明专利]回转精度测量方法和测量装置

说明书

本发明提供一种回转精度测量方法和测量装置，所述方法包括：提取所述第一特征点在第一图像的坐标(x₁₁,y₁₁)和在第二图像中的坐标(x₁₂,y₁₂)，以及提取所述第二特征点在第一图像的坐标(x₂₁,y₂₁)和在第二图像中的坐标(x₂₂,y₂₂)；根据(x₁₁,y₁₁)和(x₂₁,y₂₁)确定第一方位角θ₁；根据(x₁₂,y₁₂)和(x₂₂,y₂₂)确定第二方位角θ₂，根据所述第一方位角θ₁和所述第二方位角θ₂夹角θ＝θ₂‑θ₁；比较所述夹角θ和驱动指令中的驱动角大小，根据比较结果确定待测试回转平台的转动精度。前述方法采用图像采集系统分别获得第一时刻和第二时刻时第一特征点和第二特征点的坐标，利用两个时刻坐标两个特征点坐标连线确定的直线之间的夹角和驱动指令中的驱动角进行比较，判定回转精度，实现回转精度地快速和准确判断。

技术领域

本发明涉及机器设备检测技术领域，特别涉及一种回转精度测量方法和测量装置。

背景技术

诸如坦克、挖掘机等机械设备对回转平台的回转角度精度有特殊要求，因此其内部配置有测量回转角度的编码器。在前述设备出厂前，编码器与待测试回转平台具有较好的配合精度，编码器测量的回转角度和机械部件实际运动行程的回转角度相同，能够保证设备回转的精度控制；而当待测试回转平台进行大修后，因为机械设备的运转特定发生改变，所以编码器的编码特性和机械部件的运行特性不再匹配，造成编码器不能如实反映待测试回转平台的回转角度，造成对待测试回转平台的控制不准确，影响相应工作的正常实现，因此如何验证大修后的回转精度，确定设备状态是一重要问题。

发明内容

为解决设备大修后，需要验证回转平台回转精度的问题，本发明提供一种回转精度测量方法和测量装置。

本发明提供一种回转精度测量方法，采用光轴平行于待测试回转平台转动轴的图像采集装置拍摄待测试回转平台上包含第一特征点和第二特征点的区域；

其中所述第一特征点和所述第二特征点位置不重合；所述方法包括：

在第一时刻拍摄待测试回转平台形成第一图像，在第二时刻拍摄待测试回转平台形成第二图像；提取所述第一特征点在第一图像的坐标(x₁₁,y₁₁)和在第二图像中的坐标(x₁₂,y₁₂)，以及提取所述第二特征点在第一图像的坐标(x₂₁,y₂₁)和在第二图像中的坐标(x₂₂,y₂₂)；

根据(x₁₁,y₁₁)和(x₂₁,y₂₁)确定第一方位角θ₁；根据(x₁₂,y₁₂)和(x₂₂,y₂₂)确定第二方位角θ₂，根据所述第一方位角θ₁和所述第二方位角θ₂夹角θ＝θ₂-θ₁；

比较所述夹角θ和驱动指令中的驱动角大小，根据比较解决确定定待测试回转平台的转动精度。